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四探針電阻率測試儀（雙電）可直接測量電極1和2之間表面間隙的電阻,。這樣測得的電阻包括了電極1和2之間的表面電阻和這兩個電極間的體積電阻。

還可對電阻器體電阻,、金屬導體的低,、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭

注：由于通過試樣內層的電流的影響,，表面電阻率的計算值與試樣和電極的尺寸有很大的關系,，因此，為了測定時可進行比較,，推薦使用與圖2所示的電極裝置的尺寸相一致的試樣,，其中d1= 50 mm, d2 = 60 mm, ds = 80 mm,

量程： 20.00mV

本儀器廣泛用于生產企業(yè)、高等院校,、科研部門,，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。

還可對電阻器體電阻,、金屬導體的低,、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭

然而,，對于很寬范圍的環(huán)境條件和材料性能,，當電極尺寸合適時， 體積電阻的影響可忽略不計。

薄片電阻率測量:

四探針電阻率測試儀（雙電）

配置不同測量裝置測試不同類型材料之電阻率.

當薄片厚度與針距比 W/S>0.5 時,， 設定電阻率基本系數(shù) C,，參照表 5.1，厚度修正 G<1.000,形狀位置修正 D<1.000,具體值 G（W/S）和 D（d/S）要查附表 1 和附表 2,， 只讀結果,。

PC軟件過程數(shù)據(jù)處理.

當薄片厚度與針距比 W/S>0.5 時， 設定電阻率基本系數(shù) C,，參照表 5.1,，厚度修正 G<1.000,形狀位置修正 D<1.000,具體值 G（W/S）和 D（d/S）要查附表 1 和附表 2， 只讀結果,。

四端測試法是目前較*之測試方法,，主要針對高精度要求之產品測試；本儀器廣泛用于生產企業(yè),、高等院校,、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具,。

工作室內應無強電磁場干擾,，不與高頻設備共用電源。

為測定表面電阻率,，試樣的形狀不限,，只要允許使用第三電極來抵消體積效應引起的誤差即可。

測試類別的快捷選擇方式,，方便了用戶同時測試多個參數(shù),，提高測試效率。

電源

外形尺寸：

阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm,、

電   阻：1×10-5～2×105Ω

電導率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  小1μΩ
測量誤差±5%
測量電壓量程： 2mV   20mV  200mV 2V 
測量精度±（0.1%讀數(shù)）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調,，由交流電源供電。

量程：1μA,，10μA,，100μA，1mA,，10mA,，1000mA, 
誤差：±0.2%讀數(shù)±2字

主機外形尺寸：330mm*340mm*120mm

顯示方式：液晶顯示6、電源：220±10% 50HZ/60HZ

標配：測試平臺一套,、主機一套,、電源線數(shù)據(jù)線一套,。

PC軟件過程數(shù)據(jù)處理.

四端測量法.

外形尺寸：

四探針方阻電阻率測試儀是目前較*之測試方法,，主要針對高精度要求之產品測試；

四探針測試探頭

化導致的電流變化與被測電流相比可忽略不計,。

測試類別的快捷選擇方式,，方便了用戶同時測試多個參數(shù),，提高測試效率。

標準電阻校準儀器.

結果,。

也可以使用條形電極或具有合適尺寸的其他裝置,。

也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜,、金屬涂層或薄膜,、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO 膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具