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一,、產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 光學(xué)薄膜測量解決方案,;
■ 非接觸、非破壞測量,;
■ 核心算法支持薄膜到厚膜,、單層到多層薄膜分析;
■ 配置靈活,、支持定制化
■ 采用高強(qiáng)度鹵素?zé)艄庠?,光譜覆蓋可見光到近紅外范圍,;
■ 采用光機(jī)電高度整合一體化設(shè)計(jì),體積小,,操作簡便,;
■ 基于薄膜層上界面與下界面的反射光相干涉原理,輕松解析單層薄膜到多層,;
■ 配置強(qiáng)大核心分析算法:FFT分析厚膜,、曲線擬合分析法分析薄膜的物理參數(shù)信息;
二,、產(chǎn)品應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì)保護(hù)膜,、有機(jī)薄膜,、無機(jī)薄膜,、金屬膜、涂層等薄膜測量,。
三,、技術(shù)參數(shù)
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