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LT-I 系列干涉測(cè)厚傳感器全面產(chǎn)品介紹

一,、產(chǎn)品概述

二,、核心優(yōu)勢(shì)（產(chǎn)品亮點(diǎn)）

1. 超高精度

• 重復(fù)精度達(dá) 1nm，線性誤差 ±20nm,，實(shí)現(xiàn)納米級(jí)厚度測(cè)量,。

• 非接觸式測(cè)量，避免接觸損傷樣品表面,。

2. 超快速度與寬范圍

• 最高 10kHz 采樣頻率,，滿足高速動(dòng)態(tài)測(cè)量需求。

• 超大測(cè)厚范圍：常規(guī)型號(hào)厚度測(cè)量范圍 1μm~2500μm（折射率 1.5 時(shí)）,，適配不同薄膜厚度場(chǎng)景,。

3. 環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)

• 抗干擾能力強(qiáng)，不受電磁干擾影響,。

• 寬范圍工作距離,，部分型號(hào)建議安裝距離 5-10mm，兼容復(fù)雜工況。

• 零發(fā)熱探頭設(shè)計(jì)：探頭內(nèi)部無(wú)電子元件,，避免發(fā)熱導(dǎo)致的夾具變形和光軸偏移,，確保長(zhǎng)期穩(wěn)定測(cè)量。

4. 光源技術(shù)升級(jí)

• 超高亮度彩色激光光源：通過(guò)藍(lán)光激發(fā)熒光體生成多色光,，較傳統(tǒng)白色 LED 光源,，發(fā)光波段更廣、亮度更穩(wěn)定,，提升干涉信號(hào)解析精度,。泓川科技國(guó)產(chǎn)納米級(jí)白光干涉測(cè)厚儀

三、測(cè)量原理

1. 光源發(fā)射：白色點(diǎn)光譜經(jīng)干涉探頭照射到樣品表面,，薄膜上下表面反射光（反射光 1,、反射光 2）產(chǎn)生相位差，形成彩色干涉條紋,。

2. 信號(hào)解析：通過(guò)解析干涉條紋的相位差與光程差關(guān)系,，計(jì)算薄膜厚度（厚度與相位差直接相關(guān)）。

3. 非接觸測(cè)量：無(wú)需接觸樣品,，通過(guò)光譜信號(hào)處理實(shí)時(shí)獲取厚度值,。

四、技術(shù)參數(shù)與型號(hào)配置

五,、典型應(yīng)用場(chǎng)景

1. 電子行業(yè)：觸摸屏 ITO 膜厚測(cè)量,、UTG 超薄柔性玻璃厚度檢測(cè),。

2. 新能源：鋰電隔膜厚度在線監(jiān)測(cè)、光伏薄膜均勻性檢測(cè),。

3. 材料科學(xué)：PET 多層膜材厚度分層測(cè)量,、光學(xué)涂層厚度控制,。

4. 精密制造：半導(dǎo)體晶圓薄膜沉積厚度監(jiān)控,、微納結(jié)構(gòu)表面形貌分析。

六,、配套支持

1. 軟件與開(kāi)發(fā)：

• 上位機(jī)軟件 TSConfocalStudio,，支持實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)顯示與分析。

• 提供 C++/C# 二次開(kāi)發(fā)包,，便于集成至自動(dòng)化產(chǎn)線,。

2. 硬件適配：

• 支持編碼器觸發(fā)與脈沖 / 電平觸發(fā)輸入，兼容多種工業(yè)控制信號(hào),。

• 模擬信號(hào)輸出（±10V 電壓 / 4~20mA 電流）與數(shù)字信號(hào)輸出（警報(bào),、比較器），滿足不同設(shè)備接口需求,。

七,、產(chǎn)品設(shè)計(jì)亮點(diǎn)

• 緊湊輕量化：最小探頭直徑僅 6.35mm，適合狹小空間安裝,。

• 光纖設(shè)計(jì)：光纖接頭預(yù)留距離 100mm,，靜態(tài) / 動(dòng)態(tài)彎曲半徑分別為 30mm/60mm，提升布線靈活性,。

• 長(zhǎng)期穩(wěn)定性：無(wú)發(fā)熱探頭結(jié)構(gòu),，避免溫度漂移影響，確保高精度持續(xù)測(cè)量,。

總結(jié)