產(chǎn)品簡介
半導(dǎo)體(各種材料)的晶片硅Si.GaAs砷化鎵等,,玻璃,金屬,,化合物等的高精度非接觸式厚度測量(非接觸式厚度測量)
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秋山科技(東莞)有限公司 |
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18922517093 |
日本sasaki koki非接觸式測厚儀OZUMA22
<用途>
半導(dǎo)體(各種材料)的晶片硅Si.GaAs砷化鎵等,,玻璃,金屬,,化合物等的高精度非接觸式厚度測量(非接觸式厚度測量)
<功能>
1. 1,。可以通過空氣背壓法進(jìn)行非接觸式厚度測量(非接觸式厚度測量),,并且不會造成刮擦和污染等損壞
,??梢暂p松進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測量(非接觸式厚度測量),而無需依賴諸如薄膜和彩色光澤之類的材料
,。潮濕時可以進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測量(非接觸式厚度測量)
,。即使鏡面透明或半透明,也可以毫無問題地進(jìn)行高精度的非接觸式厚度測量(非接觸式厚度測量)
,。由于使用上下測量噴嘴進(jìn)行測量,,因此
可以精que地測量“厚度",而不受測量對象“打滑"引起的提升的影響,。
?。ㄒ部梢赃x擇“滑行"測量(* 1))
6。由于操作簡便,,因此可以非常輕松地進(jìn)行測量和校準(zhǔn)(* 2),。
<測量原理>
精que控制上下測量噴嘴的背壓,對噴嘴進(jìn)行定位,,使噴嘴和被測物體之間的間隙保持恒定,,并使用預(yù)先用基準(zhǔn)量規(guī)校準(zhǔn)的值進(jìn)行比較計算處理。對被測物進(jìn)行測量操作,,可以精que計算出厚度,。
日本sasaki koki非接觸式測厚儀OZUMA22
<性能>
分辨率0.1μm
重復(fù)精度10次重復(fù)測量時的標(biāo)準(zhǔn)偏差(1σ)0.3μm以下
最大測量范圍 10mm(* 3)
供應(yīng)能源電源AC100V 50 / 60Hz 3A
清潔空氣0.4MPa 20NL /分鐘(* 4)