日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀PVE-80

產品特點

• 一種非接觸式電阻測量系統(tǒng)，使用脈沖電壓激勵方法作為測量原理,，可在不損壞樣品的情況下進行測量,。

• 節(jié)省空間的設計主體外殼，便攜式可移動臺

• 通過PC（軟件）進行簡單的測量操作,，數(shù)據(jù)存儲和管理

• 測量顯示單元可以根據(jù)應用（薄層電阻,，電導率，電導率）進行更改

  *本產品使用由我公司與千葉大學聯(lián)合開發(fā)的脈沖電壓激勵方法（專li號5386394）,。

測量規(guī)格

測量目標

與新材料/功能材料相關（碳納米管,，DLC，石墨烯,，銀納米線等）與
導電薄膜相關（金屬,，ITO等）
與化合物半導體相關（GaAs Epi，GaN Epi,，InP,，Ga等）
其他（*查詢）請給我）

測量尺寸

?A4尺寸（W300 x D210mm）

測量范圍

50μ?1mΩ/平方