詳細(xì)介紹
日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES
產(chǎn)品特點(diǎn)
易于攜帶和測量的手提式薄層電阻測量儀:DUORES
根據(jù)測量目標(biāo)交換和使用兩種類型的探頭(無損探頭和接觸探頭),。
•世界上首ge可替換和使用兩種類型的探頭(無損型和接觸型)的便攜式座位電阻測量裝置 •
只需放置/敲擊探頭即可自動(dòng)進(jìn)行測量
•電池連續(xù)工作時(shí)間:24小時(shí)(*電池)使用時(shí))
•顯示的數(shù)據(jù)數(shù)量:多100(*從xin數(shù)據(jù)顯示)
•存儲的數(shù)據(jù)數(shù)量:多50,000(*軟件顯示屏)
•測量數(shù)據(jù)傳輸功能:USB-Mini
•顯示:3種類型的顯示單位(Ω/□,S /□,,n / m [金屬膜厚度轉(zhuǎn)換]),, 4位浮動(dòng)小數(shù)點(diǎn)(0.000到9999)
日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES
測量規(guī)格
測量目標(biāo)
薄膜,玻璃,,紙材料等
通常,,可以在測量范圍內(nèi)測量任何樣品。
•薄膜材料(ITO,,TCO等)
•低電子玻璃
•碳納米管,,石墨烯材料
•金屬材料(納米線,網(wǎng)格,,網(wǎng)眼)
•其他
測量尺寸
不論尺寸和厚度如何均可測量
(* 大于每個(gè)探頭的測量點(diǎn)尺寸)
<測量點(diǎn)>
?無損探棒(渦電流型):φ25mm
?接觸式探頭(4種探頭類型):9毫米
測量范圍
?無損探棒(渦電流法):0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒(4探法):0.1 -4000Ω/ sq
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