日本電測densoku高精度熒光X射線膜測厚儀儀COSMOS-3X
緊湊，節(jié)省空間
出色的可操作性允許以
gao的精度測量極小的零件
采用雙濾光片,，具有gao的精度,，可以在jia條件下
進行測量，其他處理甚至可以在多任務處理能力的測量過程中進行報告,，甚至可以使用
小的準直器,，以0.05φmm的極小部分進行測量

日本電測densoku高精度熒光X射線膜測厚儀儀COSMOS-3X

 

熒光X射線膜厚計COSMOS-3X的功能

采用雙重過濾器

通過使用除數值濾波器以外的機械濾波器（雙重濾波器），可以在jia條件下進行測量,，從而始終獲得gao的精度,。

完整的報告創(chuàng)建功能

通過采用MS-Windows軟件，可以輕松捕獲測量屏幕,，并增強報告創(chuàng)建功能,。使用多任務功能，即使在測量期間也可以進行包括報告創(chuàng)建在內的其他處理,。

5種準直儀

小準直儀為0.1φmm,，可以測量極小的零件。標準,，0.1,、0.2、0.5,、1.0,、2.0
另外，有兩種特殊規(guī)格可供選擇,。
? 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
? 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自診斷功能和X射線管維護功能

使用自診斷功能,，可以迅速解決設備故障。此外,，增加了顯示X射線管使用時間和使用壽命的功能,，以支持維護安全,。

膜厚測量中的頻譜顯示

通過多通道進行光譜分析高速處理使顯示被測物的光譜變得容易。（處理速度約2-3秒）

在測量部分顯示監(jiān)控圖像

在Windows屏幕上捕獲X射線照射單元并顯示X射線照射單元,。準直儀提供了改變尺寸的放大倍率功能,。

Be 窗口X射線管（選件）提高的性能（高精度）

我們已經為熒光X射線膠片厚度計準備了Be窗口X射線管。

通過使用Be窗口X射線管,，Cr測量和Ni測量的重復測量精度顯著提高,。

 

與標準X射線管的比較

Sn等的高能量（高原子序數）測定與以前相同。

當測量低能量（低原子序數）的Cr和Ni時,，Cr的重復性提高了約3倍,，Ni的重復性提高了約2倍。

當測量兩層時,，中間層中Ni的測量精度提高了約20％,。

通過使用Be窗口X射線管，Cr的熒光X射線強度比常規(guī)標準設備的熒光X射線強度高大約9倍,。

因此,，可以在短時間內以與以前相同的精度進行測量。

請考慮使用此Be窗口X射線管,。

日本電測densoku高精度熒光X射線膜測厚儀儀COSMOS-3X

熒光X射線膜厚計COSMOS-3X的規(guī)格

類型			手動階段
測量頭	尺寸（毫米）		170 x 110
	運動量	X（毫米）	70
		Y（毫米）	70
		Z（毫米）	80
	被測物體高度（大）		80
	尺寸（毫米）		402（寬）x 430（深）x 580（高）
	重量（公斤）		48
	樣品負荷（kg）		3
電腦	尺寸（毫米）		機身182（W）x 383（D）x 372（H） /顯示器412（W）x 415（D）x 432（H）
	重量（公斤）		主機6.8 /顯示器2.8
打印機	重量（公斤）		3.4
電源供應	AC100V±10V的

（注）規(guī)格如有變更,，恕不另行通知,。

X射線源	油浸式微聚焦X射線管 靶：鎢 管電壓50kV,， 管電流可變
照射方式	頂部垂直照射法
探測器	比例柜臺
準直儀	5種（自動切換類型） 0.1、0.2,、0.5,、1.0、2.0φmm （選件）：0.05,、0.1,、0.2、0.3,、0.5 ,，φ  ：0.05×0.5、0.5×0.05,、0.1,、0.2、0.5φ
樣品觀察	CCD彩色相機
電腦	兼容PC / AT的 15英寸彩色顯示器
打印機	噴墨打印機
測量對象	原子序數22（Ti）至82（Pb） 原子序數21以下可通過吸收法測定
過濾	2種（Co,，Ni）自動切換
可測范圍	原子數22至24：0.02至約20μm 原子數25至40：0.01至約30μm 原子數41至51：0.02至約70μm 原子數52至82：0.05至約10μm
校正曲線	自動校準曲線創(chuàng)建功能 多點校準曲線
校正功能	基礎校正
應用	單層鍍層測量 兩層鍍層測量 三層鍍層測量 合金膜厚成分比同時測量 化學鍍鎳測量
測量功能	輸出樣式設定 頻譜測量 兩點之間的距離測量
數據處理功能	統(tǒng)計顯示：平均值,，標準偏差，大值,，小值,，范圍,，Cp，Cpk 直方圖 輪廓顯示 x-R控制圖
安全功能	X射線電源鑰匙開關 故障安全功能
其他特性	密碼功能 設備維護