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日本傷痕?異物檢查用光源 低角度光源/LA-0
閱讀:150 發(fā)布時(shí)間:2021-4-1提 供 商 | 秋山科技(東莞)有限公司 | 資料大小 | 47KB |
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日本傷痕?異物檢查用光源 低角度光源/LA-0
特征
光線控制 : 平行光。Work Distance 可變化,。通過(guò)X-Y 2軸進(jìn)行照明,、從而實(shí)現(xiàn)了檢測(cè)感度的提升。大尺寸檢測(cè)物體亦可對(duì)應(yīng),。尺寸可以根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制,。
用途
向透明被檢物體照射水平方向光、當(dāng)光線遇到表面?zhèn)邸?/span>內(nèi)部異物時(shí),,通過(guò)反射光檢測(cè)出來(lái),。微小異物亦可檢測(cè)。z適合于玻璃,、鏡片,、濾光片等透明物體的外觀異常檢查。
檢出傷痕的原理
下圖是檢出傷痕的原理,。下圖是實(shí)際看到的傷痕,。 |
本光源僅僅將被照射的傷痕。 |
異物等異常所產(chǎn)生的折射,、反射,,傳達(dá)到眼部, |
對(duì)外觀異常的觀察具有明顯效果,。 |