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日本傷痕?異物檢查用光源 低角度光源/LA-0
閱讀:168 發(fā)布時間:2021-4-1提 供 商 | 秋山科技(東莞)有限公司 | 資料大小 | 47KB |
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日本傷痕?異物檢查用光源 低角度光源/LA-0
特征
光線控制 : 平行光。Work Distance 可變化,。通過X-Y 2軸進行照明,、從而實現(xiàn)了檢測感度的提升。大尺寸檢測物體亦可對應,。尺寸可以根據(jù)客戶需求進行定制,。
用途
向透明被檢物體照射水平方向光、當光線遇到表面?zhèn)邸?/span>內(nèi)部異物時,,通過反射光檢測出來,。微小異物亦可檢測。z適合于玻璃,、鏡片,、濾光片等透明物體的外觀異常檢查。
檢出傷痕的原理
下圖是檢出傷痕的原理,。下圖是實際看到的傷痕,。 |
本光源僅僅將被照射的傷痕。 |
異物等異常所產(chǎn)生的折射,、反射,,傳達到眼部, |
對外觀異常的觀察具有明顯效果,。 |