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日本napson電阻測量技術和原理

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日本napson電阻測量原理

 

電阻測量的三個基本知識

  • 電阻測量的定義
  • 觸點類型:4種探頭法測量
  • 非接觸型:渦流法測量

 

電阻測量的定義

通常,電阻(電阻)用于評估物質或材料的電導率(導電性),。我認為以下Ω(Ohm)是電阻的評估標準(許多人在“歐姆定律”中都記得它),。

電阻_(電阻)=Ω[讀數(shù):歐姆]

⇒表示電流難易度的單位

R = V / I * V =電壓,I =電流

由數(shù)字萬用表(絕緣電阻表)測量的絕緣電阻也通常以Ω單位表示,。

電阻單位還根據(jù)物質或材料的形狀而適當?shù)厥褂?,并且根?jù)測量目標而主要使用,因為存在針對每個行業(yè)的工業(yè)標準(例如,,JIS)的電阻單位,。關于電阻的表示法是不同的。

除了電阻[Ω],,我們的電阻測量系統(tǒng)還支持以下兩種類型的電阻測量單位:電阻[Ωcm]和薄層電阻[Ω/□],。

電阻=Ωcm[讀數(shù):歐姆厘米]

*也稱為比電阻。

⇒物質的“體積電阻值”

它主要用于表示較厚物體的電阻,,例如硅片,,大塊以及導電橡膠和塑料。

電阻:R的值由以下等式表示,,其中ρ是電阻,,L是導體的長度,A是導體的截面積,。

R =ρ×[L / A]

因此,電阻值ρ由下式表示。

ρ= V / I×[A / L]

*當單位為Ωcm時,,該值為1 cm x 1 cm x 1 cm的體積,。根據(jù)測量目標的不同,它可能以Ωm(歐姆表)表示,。

薄層電阻=Ω/□[讀數(shù):歐姆/平方]

*也稱為比電阻,。

⇒物質的“表面電阻值”

它主要用于表示片狀材料(例如薄膜和膜狀材料)的電阻。

觸點類型:4種探頭法測量

在這里,,我們將介紹接觸式電阻測量原理的概述(4探針法)(該原理的詳細說明在材料中),。

(*對于我們的產品,還有一個系統(tǒng)會根據(jù)電阻范圍使用不同的測量方法,。)

 

四探針法主要用于接觸式情況,,可以測量1E-3(1m)到1E + 9(1G)Ω/□電阻范圍。

這種測量方法是在廣泛領域中測量電阻的基礎,。

●在四探針法中,,將按照以下步驟進行測量。

(1)將四個針狀電極直線地放在測量樣品上,。

(2)兩個外部探頭之間流過恒定電流,。

(3)通過測量兩個內部探針之間的電位差來計算電阻。

非接觸型:渦流法測量

在這里,,我們將介紹非接觸式(渦流法)電阻測量原理的概況(該原理的詳細說明在材料中),。

(*在我們的產品中,根據(jù)電阻范圍,,還有另一種非接觸式電阻測量方法系統(tǒng),。請單擊此處。請參考,。此外,,關于非接觸式測量原理,除了渦流方法外,,但很抱歉給您帶來麻煩請聯(lián)系我們)

渦流法主要用于非接觸式,,可測量1E-3(1m)至1E + 4(10k)Ω/□電阻范圍。

它可用于半導體,,化合物半導體,,液晶和新型碳基材料等廣泛領域的測量。

渦電流測量系統(tǒng)使用電磁感應產生的渦電流來測量電阻,。

非接觸式測量探頭單元的探頭芯(磁性材料)在兩側(上下)以一定的間隙排列,。

●在渦流法中,按照以下步驟進行測量,。

(1)當在探針芯之間施加高頻以產生磁通量并且插入樣本時,,樣本中產生渦流,。

(2)此時,(1)渦電流流過樣品→(2)樣品中消耗了電流,,發(fā)生了功率損耗,。

 →③電路中的電流成比例降低。檢測該減小的電流值,。

(3)由于檢測到的電流值與樣品的電阻成反比關系,,請使用此值。

 座椅電阻或電阻是從電流值和座椅電阻的校準曲線(計算公式)得出的,。

 ?。?計算電阻時需要樣品厚度信息)

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