技術文章
CS-1 晶片內位錯檢測儀產品介紹
閱讀:562 發(fā)布時間:2024-5-21CS-1 晶片內位錯檢測儀產品介紹
"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測可見光(波長400~800nm)透明性晶體材料中由于殘留的缺陷,、應力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設備,。通過本設備可以實現快速,、準確地把握目檢下無法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài),。
產品特征
產品特長 |
|
可測量材料 |
|
測試效果不佳材料 | ?無可視光透視性材料:Si、GaAs等 |

![]() |
秋山科技(東莞)有限公司 |
—— 銷售熱線 ——
18922517093 |
CS-1 晶片內位錯檢測儀產品介紹
"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測可見光(波長400~800nm)透明性晶體材料中由于殘留的缺陷,、應力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設備,。通過本設備可以實現快速,、準確地把握目檢下無法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài),。
產品特長 |
|
可測量材料 |
|
測試效果不佳材料 | ?無可視光透視性材料:Si、GaAs等 |