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電子材料中有害重金屬Cd和Pb的分析案例
閱讀:1345 發(fā)布時(shí)間:2022-8-1電子材料中有害重金屬Cd和Pb的分析案例
背景
近年來,對(duì)環(huán)境問題的關(guān)注日益增加,,鎘和鉛被用作穩(wěn)定劑,,特別是在塑料阻燃劑和電線電纜涂層材料中。歐盟內(nèi)部制定了 WHEE(廢棄電氣電子設(shè)備)和 RoHS(限制在電氣和電子設(shè)備中使用某些有害物質(zhì))等法規(guī),,有害物質(zhì)(汞,、鎘、鉛,、六價(jià)鉻,、PBB?PBDE) 的使用受到限制。這次,,我們將介紹使用能量色散 X 射線熒光光譜儀 (OURSTEX150RoHS) 輕松進(jìn)行的低濃度 Cd/Pb 分析,。
測(cè)量條件
測(cè)量裝置:OURSTEX150RoHS
探測(cè)器:SDD(硅漂移探測(cè)器)
管電壓/電流:48kV-AUTO
測(cè)量結(jié)果
圖 1 顯示了 Cd 和 Pb 的測(cè)量曲線。樣品是在氯乙烯樹脂中添加 Cd 和 Pb 制成的糊狀物,。與空白樣品相比,,即使在低濃度下,33ppm Cd-Kα 和 43ppm Pb-Lα 也清楚地顯示出峰,。圖 2 顯示了每個(gè)的校準(zhǔn)曲線數(shù)據(jù),。通過設(shè)置 ROI 范圍并使用具有背景減法的綜合強(qiáng)度獲得標(biāo)準(zhǔn)曲線。此外,表 1 顯示了每個(gè)測(cè)量時(shí)間的檢測(cè)下限,。
概括
OURSTEX 150RoHS 結(jié)構(gòu)緊湊,,不需要液氮或冷卻水,因此具有成本效益,。另外,,由于使用熒光X射線分析法,樣品處理容易,,測(cè)定也容易,。此外,SDD檢測(cè)器,、鎢管和特殊濾光片的使用可以同時(shí)分析鎘和鉛,,靈敏度高,測(cè)量時(shí)間短,。該設(shè)備適用于電線包覆劑和各種塑料等電子零件中微量重元素的分析,。
推薦設(shè)備
能量色散X射線熒光光譜儀“OURSTEX160RoHS"