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日本Sinko denki針孔檢測的原理及設(shè)備介紹
閱讀：1641 發(fā)布時間：2022-6-20日本Sinko denki針孔檢測的原理及設(shè)備介紹
針孔檢測原理
將兩個金屬體（電極）以恒定距離 (t) 放置在空氣中，并在兩個電極之間連接高壓發(fā)生器 (E)。接下來,，隨著電源電壓的逐漸增加,，您可以在電極之間看到一定值的聲光條紋。（見圖1）
這是因為空氣被施加在電極之間的電壓破壞而失去電絕緣性，這種射線系統(tǒng)現(xiàn)象稱為火花放電。
空氣被電壓擊穿稱為介質(zhì)擊穿，此時的電壓稱為擊穿電壓,。絕緣耐壓
是空氣絕緣能承受一定電壓的破壞力。
用于包裝的絕緣材料,，如薄膜和塑料容器,，通常具有比空氣更高的介電強度。因此,，如果在引起放電的電極之間插入薄膜等,，則電極會被高介電強度阻擋，放電會失去返回路徑而停止,。（參見圖 2,。）
因此，如果在電極之間施加一個不破壞封裝材料而只破壞空氣絕緣的電壓,，則用完好的封裝材料不會發(fā)生放電,，只有針孔等有缺陷的部分才會放電。（參照圖3） 針孔檢查機檢測有無這種放電,，判斷產(chǎn)品的質(zhì)量,。
包裝針孔檢測原理
1 針孔檢查方法
左圖為封裝后的針孔檢測裝置的檢測輪廓。
如果在封裝通過檢查電極下方時檢測到針孔或密封不良,，則檢查電極與內(nèi)容物之間以及接地電極與內(nèi)容物之間將發(fā)生放電,。
該設(shè)備檢測是否存在這種放電，并確定包裝中針孔的質(zhì)量,。
2,、針孔檢測原理
圖 4 用等效電路代替了針孔檢查的示意圖。
C1是檢查電極和內(nèi)容物之間形成的電容，C2是接地電極和內(nèi)容物之間形成的電容,。R是內(nèi)容物的電阻,。
如果接地電極比檢查電極大，C2 的阻抗與 C1 相比可以忽略不計,，則可以將其視為 C1 和 R 的串聯(lián)電路,，如圖 5 所示。
此外,，如果內(nèi)容物是導(dǎo)電的并且電阻可以忽略不計,，電路配置將與上一節(jié)中的圖3相同，并且可以進(jìn)行穩(wěn)定的針孔檢查,。
如果在電極之間施加不破壞包裝材料而僅破壞空氣絕緣的電壓,，則如果包裝材料有針孔或密封不良，則會發(fā)生放電,。通過檢測有無這種放電,，可以判斷產(chǎn)品針孔的好壞。
3 針孔檢查條件
能否通過高壓放電法對包裝品進(jìn)行針孔檢查,，取決于電極間施加的電壓（外加電壓）、包裝材料的絕緣強度,、內(nèi)容物的電特性,、形狀等. 因此，針孔檢查需要滿足以下條件,。
1 包裝材料的特性
包裝材料必須具有較高的電絕緣性,，并具有相對于檢驗電壓足夠大的介電強度。
■ 如果絕緣低,，可能會導(dǎo)致誤檢測,。
■ 如果邊緣強度低，則有損壞完好包裝材料的風(fēng)險,。
2 內(nèi)容物條件
內(nèi)容物必須在包裝材料中填充良導(dǎo)體,。
■ 即使內(nèi)容物是導(dǎo)電的，如果它們具有高電阻,，則可能無法進(jìn)行針孔檢查,。
■ 根據(jù)產(chǎn)品的形狀、內(nèi)容物的形狀,、特性,、包裝條件等，可能無法進(jìn)行針孔檢查,。
針孔檢測機
APH-D
絕緣材料（塑料瓶蓋,、塑料瓶、玻璃瓶、陶器）等在灌裝前采用高壓放電式針孔檢測對針孔缺陷進(jìn)行非接觸檢測,。
APH-DE25S
除拉蓋外,，還可用于布丁等食品容器和眼藥水等化學(xué)容器的針孔檢查。
特斯拉燈檢查器
檢測燈泡和電子管的排氣水平或確定封閉氣體,，檢測玻璃安瓿和真空裝置的玻璃部分的廢氣水平或確定封閉氣體,。檢測橡膠、塑料和其他薄膜和薄板上的針孔,。
APH-P
它用作針孔檢查機,，以電氣檢查意外出現(xiàn)在塑料涂層覆蓋面上的針孔，該塑料涂層安裝在彈性軟管的外表面上,，用于防水,。
APH-A
通過高壓放電式針孔檢測對填充化學(xué)品和食品（塑料瓶、瓶子,、容器,、袋子）后的缺陷和樹脂薄膜等針孔缺陷進(jìn)行非接觸檢測。
微型檢查器（濕）
由于本機使用高電壓,，因此可用于薄膜針孔檢查,，如果氣隙約為幾十微米，則會導(dǎo)致絕緣失效,。
電壓檢查器
本機是檢查 APH-D 型電極（+ 電極）電壓的設(shè)備,。