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原子力顯微鏡AFM的原理和優(yōu)點(diǎn)介紹
閱讀：1160 發(fā)布時(shí)間：2020-10-14
原子力顯微鏡AFM是可以在大氣和液體環(huán)境下對(duì)各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測(cè),，或者直接進(jìn)行納米操縱；現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體,、納米功能材料、生物,、化工,、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學(xué)科的研究實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域中,，成為納米科學(xué)研究的基本工具,。
原理：
將在微小扁簧的頂端裝有尖細(xì)探針的懸臂靠近樣本表面直至距離為數(shù)nm 的地方，通過(guò)探針頂端的原子與樣本原子之間產(chǎn)生的原子力測(cè)量樣本的凹凸情況,。原子力顯微鏡為使原子力穩(wěn)定（懸臂撓度穩(wěn)定）,，向壓電式掃描儀發(fā)送反饋并進(jìn)行掃描。
測(cè)量壓電式掃描儀接收到的位移量,，可獲取Z 軸位移,，也就是表面結(jié)構(gòu)。
測(cè)量壓電式掃描儀位移量的方法通常采用光學(xué)杠桿方式,，即向懸臂背面照射激光,，通過(guò)將反射光分成4份（或2份）的光電二極管進(jìn)行檢測(cè)。
原子力顯微鏡AFM的優(yōu)點(diǎn)：
- 分辨率（可分辨出2點(diǎn)的小距離）高,。
- 可以進(jìn)行超高倍率的三維測(cè)量,。也可以進(jìn)行數(shù)據(jù)后加工處理。
- 可在大氣中進(jìn)行觀測(cè),，無(wú)需預(yù)處理樣本,。
- 能分析物理性能（電性能、磁性能,、摩擦/粘彈性等）,。