您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
“中國芯”任重道遠(yuǎn)，崛起之路你我同行
半導(dǎo)體對于經(jīng)濟(jì)競爭力和國家至關(guān)重要,。半導(dǎo)體技術(shù)的創(chuàng)新是推動世界經(jīng)濟(jì)數(shù)字化,，人工智能（AI）和5G通信的基礎(chǔ)。作為世界制造業(yè)大國,、世界貿(mào)易大國,、世界大經(jīng)濟(jì)體，中國在半導(dǎo)體芯片的研究和制造領(lǐng)域還有很大的發(fā)展空間,。
近日,，國家發(fā)改委、科技部,、工信部,、財政部等四部門聯(lián)合印發(fā)了《關(guān)于擴(kuò)大戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)投資 培育壯大新增長點(diǎn)增長極的指導(dǎo)意見》，提出要“聚焦新能源裝備制造‘卡脖子’問題,，加快IGBT,、控制系統(tǒng)等核心技術(shù)部件研發(fā)”。ITECH響應(yīng)國家號召,，不斷增加對于IC芯片,、半導(dǎo)體激光器、IGBT,，繼電器等分立器件,、傳感器等測試技術(shù)的研發(fā)投入,，并為國產(chǎn)芯片的制造提供配套的解決方案。
導(dǎo)體測試是生產(chǎn)流程中一個非常重要的環(huán)節(jié),，回顧ITECH服務(wù)于半導(dǎo)體測試的這些年,，為用戶解決測試苦難，與行業(yè)共同進(jìn)步,。
電學(xué)測試
靜態(tài)電流測試（SIDD）,，在一定電壓下讓IC處于無負(fù)載、無振蕩狀態(tài),，將電流表的一端接電源的正極,，另一端接IC的VDD腳，電流表的讀數(shù)即為IC的靜態(tài)電流,。
IT6400雙極性直流電源,，解析度高達(dá)1nA，既可以作為供電電源,，又可以測試靜態(tài)電流,。
老化測試
半導(dǎo)體的老化測試過程基本上模擬運(yùn)行了芯片整個壽命，可以用來作為器件可靠性的檢測或作為生產(chǎn)窗口來發(fā)現(xiàn)器件的早期故障,。傳統(tǒng)的方法是采用電阻進(jìn)行能耗放電,，這一方面會消耗大量的電能，另一方面會大大增加輸配電設(shè)備的容量,，同時釋放的熱量會增加空調(diào)的負(fù)擔(dān),。通常而言，負(fù)載具有負(fù)效率特性,、影響了工作環(huán)境質(zhì)量和電力開銷,。其中最大的問題就是電量的浪費(fèi)。比如,，一個典型的100路800W的老化測試系統(tǒng)就要消耗超過80KW才能夠提供測試功能,。
IT-M3300系列小功率回饋式直流電子負(fù)載很好的*了這一產(chǎn)品空白，既能模擬各種負(fù)載特性,，又能將電能無污染的回饋電網(wǎng),，½U的體積內(nèi)可提供高達(dá)800W的功率吸收。
特性測試
IT-M3200高精度直流電源的電流最大可達(dá)10A,，分辨率可達(dá)10nA,，可以滿足用戶更多IC測試需求。另外,， IT9100系列功率分析儀可代替電流表,，來完成測試。
生產(chǎn)測試
在芯片測試中會使用直流電源對芯片進(jìn)行供電,，在此類測試中需要大量小體積,、高精度,、可編程直流電源。近期,，數(shù)百臺IT-M3120高精度可編程直流電源集成于測試臺為用戶完成其產(chǎn)線生產(chǎn)測試需求,。
IT-M3100系列擁有擴(kuò)展輸出電流、電壓的功能,?？梢愿鶕?jù)用戶不同要求的電流、電壓值,，采用并聯(lián)、串聯(lián)的方式來實(shí)現(xiàn),。并聯(lián)運(yùn)行時,，最多可并聯(lián)4臺。串聯(lián)運(yùn)行時,，可連接2臺,。透過串并聯(lián)功能可支持多種不同功率的待測物測試，并且使用戶的使用更為彈性,，設(shè)備的使用率大幅提高,。