溫度和數(shù)據(jù)采集,,怎樣簡便高效,?
在產(chǎn)品的研發(fā)生產(chǎn)流程中,,為了確保產(chǎn)品的出廠性能,需要驗(yàn)證產(chǎn)品在惡劣環(huán)境中的狀態(tài)或正常工作的條件極限,。這就通常要測試溫度在內(nèi)的多項(xiàng)參數(shù),,數(shù)采是該類測試常用的儀器之一。
測試方案推薦
WatlowF4T控制器+DAQ 6510
圖|整體流程工藝示意圖
溫度控制器WatlowF4T:管理測試環(huán)境條件(如上圖所示),;記錄并顯示編程特性執(zhí)行期間的環(huán)境條件,;提供一系列SCPI命令以便對溫度艙進(jìn)行遙控。
吉時(shí)利數(shù)采DAQ6510:監(jiān)測環(huán)境,, 直到達(dá)到所需的測試條件,, 然后執(zhí)行掃描并采集數(shù)據(jù)。
測試方案優(yōu)勢
1.簡化操作
圖|測試連接示意圖
通過WatlowF4T控制器+DAQ 6510的測試方案,,可以方便地使用同一設(shè)備,,來監(jiān)測測試艙,并獲得讀數(shù),。憑借吉時(shí)利測試腳本處理器(TSP) 強(qiáng)大的腳本編制功能,, 并采用標(biāo)準(zhǔn)以太網(wǎng)連接實(shí)現(xiàn)儀器通信,吉時(shí)利數(shù)采 DAQ 6510可以控制F4T溫度艙控制器,。
2.提高效率
如果需要進(jìn)行多通道測量,,可以用吉時(shí)利數(shù)采DAQ 6510配置相適應(yīng)的7700系列復(fù)用器掃描卡,一臺吉時(shí)利數(shù)采DAQ 6510能支持高達(dá)80通道容量的測試,。
3.方便分析
吉時(shí)利數(shù)采DAQ 6510觸屏界面設(shè)計(jì),,不僅可以助力縮短儀器的設(shè)置時(shí)間,實(shí)時(shí)監(jiān)控測試情況,,還能快速對多通道進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,。