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ITC57300 IGBT半導體分立器件動態(tài)參數系統(tǒng)
半導體參數測試儀
技術指標
1.小電流i-v ： 超低漏電流（fA）,，最 大電壓200V,，最大電流1A,； 2.高電壓I-V ： 最大電壓1000V 3.通用I-V ： 適合于大多數參數測試 4.c-v單元： 能夠在1MHz下測量10pF電 容,，準確度達1%。
主要功能
自動完成多路硅微條探測器中多條探測單元的I-V特性,、C-V特性,、擊穿特性等參數測量，無需人工一點一點的測量,。其主要任務是快速高效地甄別多路硅微條探測性能,，從而優(yōu)化工藝，提高探測器性能,，更好的服務于核物理實驗,。
半導體參數測試儀
武漢賽斯特精密儀器有限公司是武漢市專業(yè)研發(fā)，以力學試驗機儀器為主,，同時銷售各種,、中低端分析儀器。現有員工60多人,，公司成功開發(fā)了PCI放大采集卡和中文版試驗軟件,，并采用全數字化，操作簡捷，*符合GB,、ISO,、JIS、ASTM,、DIN等標準,、國家標準、行業(yè)標準的要求,，公司亦通過了ISO9001質量體系認證和國家計量體系認證,，榮獲了“武漢市第九界消費者滿意單位"的稱號。
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