掃描電子顯微鏡在硬質(zhì)合金材料中的分析和應(yīng)用十分廣泛，主要應(yīng)用于硬質(zhì)合金材料粉末的形貌觀察,，均勻性和結(jié)晶度觀察,，合金組織觀察，斷口分析,，微區(qū)成分分析以及涂層厚度測量等,。還可以用于深入研究硬質(zhì)合金材料的微觀結(jié)構(gòu)與工藝條件及性能的關(guān)系，對材料整個生產(chǎn)鏈的機理研究,，工藝研發(fā)和質(zhì)量控制等均可提供指導(dǎo)性的作用,。
硬質(zhì)合金的原材料
硬質(zhì)合金是以一種或幾種難熔碳化物（碳化鎢、碳化鈦等）的粉末,，加入作為粘結(jié)劑的金屬粉末（鈷,、鎳等），經(jīng)過粉末冶金法制得的合金,。而硬質(zhì)合金的性能直接取決于其顯微結(jié)構(gòu),，而合金的顯微結(jié)構(gòu)在制造過程中不斷地發(fā)生變化，在很大程度上是由其原料決定的,。
出于對工藝上的質(zhì)量要求,，很多企業(yè)都非常關(guān)注硬質(zhì)合金生產(chǎn)的原材料的晶粒形貌，平均尺寸,，粒度分布,。掃描電鏡則可以觀察粉末從原料到成品的整個生產(chǎn)過程中的超細(xì)的微米納米級粉末顆粒的微觀形貌和顆粒分布，以此來判斷原材料的均勻性和晶體結(jié)構(gòu)的發(fā)育情況,，以及樣品中是否存在異物等,，為粉末生產(chǎn)的品質(zhì)提供最直觀的證據(jù)。
掃描電鏡實時元素分析
掃描電子顯微鏡可以幫助我們對硬質(zhì)合金的形貌和成分進行綜合分析,，在實際生產(chǎn),、新產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制等方面發(fā)揮著非常重要的作用。
賽默飛智能型鎢燈絲掃描電鏡Axia ChemiSEM配備了五軸優(yōu)中心樣品臺,，在檢測時,，樣品不僅可以在三維空間中移動，還可以根據(jù)檢測需要進行空間轉(zhuǎn)動,，五軸觀察,，非常有利于使用者對感興趣的區(qū)域進行連續(xù)、系統(tǒng)的觀察分析,。另外,，在實際的應(yīng)用中，除了樣品的微觀形貌,，使用者也希望在同一臺設(shè)備上進行化學(xué)成分分析,，提供包括形貌、成分在內(nèi)的盡可能多的全面的資料,，以便能更詳細(xì),、客觀地對樣品進行分析。
Axia ChemiSEM將傳統(tǒng)SEM的各種成像模式與實時元素定量分析功能全面集成在一起,，可以快速識別更大面積范圍內(nèi)的各類異物,，一鍵獲取實時元素分析結(jié)果。使用Axia ChemiSEM獲取樣品表面的成分分析結(jié)果,，同時包含SEM和EDS數(shù)據(jù),，較短的采集時間也可獲取表面異物顆粒的成分信息。我們利用EDS元素點分析的方法準(zhǔn)確定量分析異物元素,，Axia ChemiSEM用戶界面集成了傳統(tǒng)EDS的所有功能,，在對特征區(qū)域進行定點元素分析時，不需要切換到其他軟件就可以完成分析,，可隨時對樣品表面的異物進行檢測,，大大提高了分析效率。
碳化鎢的微觀形貌
賽默飛智能型掃描電鏡 Axia ChemiSEM
全新一代 Thermo Scientific™? Axia™? ChemiSEM 智能型鎢燈絲掃描電鏡，可在低電壓及電子束減速模式配合經(jīng)典的 CBS 探頭（同軸環(huán)狀背散射探頭）對不導(dǎo)電樣品在不鍍金的條件下呈現(xiàn)成像性能,，可用來觀察各種處理后的樣品的真實形貌，再通過掃描電鏡獲得的形貌信息和成分信息,，為客戶提供高效的解決方案,。
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