賽默飛掃描電鏡結(jié)合了全面的成像性能和*的環(huán)境模式，同時兼容廣泛的硬件和軟件選型,，可滿足多用戶實驗室的綜合應(yīng)用需求,。支持掃描預(yù)設(shè)、便捷的相機(jī)導(dǎo)航更進(jìn)一步提升了生產(chǎn)力,、數(shù)據(jù)質(zhì)量和易用性,。多種檢測器選項的定向背散射探測器、STEM,、陰極熒光探測器等功能,，探測器信號同步采集和顯示，可以在最短的時間內(nèi)提供答案,。此外,，ESEM可以在現(xiàn)實條件下對樣品進(jìn)行原位研究，例如在濕潤,、高溫,、潮濕或反應(yīng)性環(huán)境中的樣品觀察
賽默飛掃描電鏡有三種真空模式，使得系統(tǒng)靈活性*,，可以容納任何SEM可用的*泛的樣品類型,，包括放氣的、未鍍導(dǎo)電膜的或者是與真空狀態(tài)不相容的樣品,。它同時支持相對的雙能譜(EDS)探測器,、共面能譜(EDS)、電子背散射衍射(EBSD)和平行束波譜(WDS)探測器,。分析樣品倉可以滿足日益增長的樣品元素信息及晶體結(jié)構(gòu)分析需求,。
賽默飛掃描電鏡具有幾下幾個特點：
1.在自然狀態(tài)下對材料進(jìn)行原位研究：在各種操作模式下分析導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品，同步獲取二次電子像和背散射電子像,。
2.大程度縮短樣品制備時間：低真空和環(huán)境真空技術(shù)可針對不導(dǎo)電和/或含水樣品直接成像和分析,，樣品表面無荷電累積。
3.觀察所有樣品獲取全面的信息,，在每種操作模式下均可同時進(jìn)行SE和BSE成像。
4.優(yōu)益的不導(dǎo)電樣品分析功能：借助多級穿過透鏡的真空系統(tǒng),，實現(xiàn)低真空下的高質(zhì)量EDS和EBSD分析,。
5.高精度優(yōu)中心樣品臺,，可多方位觀察樣品。
6.軟件直觀,、簡便易用,，配置用戶向?qū)Ъ俺蜂N功能，新手用戶可進(jìn)行高效操作,，專家用戶也可進(jìn)行更少的操作,，完成快速分析。
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