CS-NanoPALS高靈敏Zeta電位及粒度分析儀粒度測量采用動態(tài)光散射原理，是一種準(zhǔn)確,、快速,、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器,。Zeta電位測量采用硬件PALS技術(shù),，與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高約1000倍,，可適用于諸如低介電常數(shù),、 高粘度、 高鹽濃度以及等電點附近這些測量條件下的樣品測量,。

許多從事新材料,、生命科學(xué)、環(huán)境工程等新興學(xué)科的研究人員長期以來苦于無法對諸如在低介電常數(shù),、高粘度,、高鹽濃度以及等電點附近這些測量條件下的樣品進(jìn)行分析，這是因為其電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍,，傳統(tǒng)方法沒有足夠的靈敏度進(jìn)行測量,，CS-NanoPALS的出現(xiàn)為他們提供了準(zhǔn)確可信的測量技術(shù)。

簡單的計算即可說明硬件PALS技術(shù)的特性：

納米粒度測量部分使用動態(tài)光散射技術(shù)（DLS）,，即由于顆粒在懸浮液中的布朗運動,，使得光強(qiáng)隨時間產(chǎn)生脈動。采用數(shù)字相關(guān)器技術(shù)處理脈沖信號,，將光強(qiáng)的波動轉(zhuǎn)化為相關(guān)函數(shù),。自相關(guān)函數(shù)包含了懸浮顆?；蛘呷芤褐懈叻肿拥臄U(kuò)散速度信息，進(jìn)而利用Stokes-Einstein方程計算得出粒子的擴(kuò)散系數(shù)和粒子粒徑R?及其分布：

主要特點：

1,、高功率半導(dǎo)體激光器：功率40mW,，波長640nm紅光激光器；

2,、高靈敏度檢測器：APD雪崩型二極管檢測器,；

3、表面Zeta電位測量：具有表面Zeta電位測量功能,，可用于測量薄膜表面Zeta電位,；

4、微流變測量：具有微流變測量功能,，可通過顆粒運動分析（如均方位移MSD）表征復(fù)雜流體的流變特性,，包括粘度、彈性模量G'及粘性模量G'',，進(jìn)行低粘性,、弱結(jié)構(gòu)及高應(yīng)變敏感樣品的粘彈性表征；

5,、在線檢測器功能：可作為在線檢測器與GPC/SEC連接,；

6、高靈敏性：硬件PALS技術(shù),，靈敏度高約1000倍,，適用于高鹽濃度、有機(jī)溶劑,、油相體系,；

7、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析功能：軟件提供測試過程光強(qiáng)實時變化圖,，并提供灰塵過濾功能,；可自動研究粒度隨時間、溫度(蛋白熔點)以及其他參數(shù)變化的趨勢分析,。

典型應(yīng)用：

1,、脂質(zhì)體、生物膠體

2,、陶瓷

3,、顏料、油墨

4,、醫(yī)藥

5,、乳劑（食品、化妝品）

6,、廢水處理

7,、膠乳

8,、炭黑