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貨物所在地：國外
更新時間：2024-11-29 21:00:09
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碳化硅(SiC)已成為工業(yè)電子領(lǐng)域重要的寬禁帶半導(dǎo)體之一,，由于其高熱導(dǎo)率,、高擊穿場強,、高電子飽和漂移速率等優(yōu)勢,，特別是對于大功率半導(dǎo)體器件，碳化硅優(yōu)于硅,，更受青睞,。而碳化硅(SiC)外延材料的厚度、背景載流子濃度等參數(shù)直接決定著SiC器件的各項電學(xué)性能,。
因此,，碳化硅外延技術(shù)對于碳化硅器件性能的充分發(fā)揮具有決定性的作用，是寬禁帶半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)重要的一環(huán),。不知您是否為外延層厚度無損分析問題而困擾，在此我們介紹一種光學(xué)無損外延層厚度分析技術(shù)——傅立葉變換紅外反射光譜法(FTIR),。
紅外光譜法可用于測量半導(dǎo)體外延層厚度,，無論硅基還是化合物半導(dǎo)體,，且測量精度高,。此方法是基于紅外光在層狀結(jié)構(gòu)中產(chǎn)生的光干涉效應(yīng)的分析,，結(jié)合基礎(chǔ)的物理自洽擬合模型,，充分利用所測得的光譜特征，擬合計算給出準確的層厚厚度值,。
對于摻雜后折射率參數(shù)很難準確確定的情況下,，不僅可用于單層外延層層厚分析，更重要的可以用于復(fù)雜多層結(jié)構(gòu)外延層層厚分析,。結(jié)合布魯克INVENIO,，VERTEX系列寬波段光譜儀，可用于亞微米量級至毫米量級的外延層層厚分析,。
厚度范圍：亞微米量級至毫米量級
同質(zhì)外延、異質(zhì)外延
單層,、多層
專用的分析模型,，尤其對于復(fù)雜、多層結(jié)構(gòu)的分析
可選自動晶圓掃描成像附件,，可對直徑2"—12"的晶圓進行自動多點測試,、分析
傅立葉變換紅外光譜技術(shù)高精度、高光通量,、高靈敏度、高特征性、快掃描速度,，可以研究穩(wěn)態(tài),、及動態(tài)樣品信息,，在催化劑表征方便有成熟、廣泛的應(yīng)用,。主要用來研究催化劑表面組成，固體酸催化劑表面酸性部位類型(L酸,，B酸),，表面吸附態(tài)，載體與助劑間的相互作用以及與活性組分之間的相互作用,。
結(jié)合各種采樣模式原位池(透射、漫反射),，以及跟超高真空腔室(UHV)聯(lián)用的原位紅外光譜容易實現(xiàn)各種溫度、壓力,、氣氛以及光照的原位光譜分析,，結(jié)合傅立葉變換紅外時間分辨功能,，特別在氣固相催化反應(yīng)機理、反應(yīng)動力學(xué)研究方面得到廣泛的應(yīng)用和青睞,。
INVENIO 是布魯克推出的研究級傅立葉變換紅外(FTIR)光譜儀的入門級產(chǎn)品,。INVENIO 產(chǎn)品的創(chuàng)新技術(shù)及其智能精巧的設(shè)計為新一代傅立葉變換紅外光譜儀樹立了標準,。新的光路設(shè)計將帶來優(yōu)異的信噪比,、較寬的光譜范圍(覆蓋從遠紅外至紫外/可見光譜區(qū))和高靈活性,，適用于各種復(fù)雜的實驗配置,。
可選的集成平板電腦觸控界面讓 您擁有簡單的工作流程和舒適的操作體驗,。
布魯克的 MultiTect™ 檢測器技術(shù)支持多達5個全自動室溫檢測器,。結(jié)合獨立的 DigiTect™ 檢測器位與支持快速 MIR 測量的 Transit™ 通道，INVENIO 內(nèi)部可配備多達 7個自動檢測器，讓您的日常工作變得更加舒心,。
布魯克INVENIO原位催化/外延層厚度 傅立葉變換紅外光譜儀特點：
1.可選的平板電腦觸控操作界面,，有助于實現(xiàn)簡單的工作流程
2.創(chuàng)新型 MultiTect™ 檢測器技術(shù)，支持多達 5個室溫檢測器
3.獨立 DigiTect™ 檢測器插槽,，用于如 LN2 冷卻型檢測器或其他 DigiTect™ 檢測
4.Transit™ 測量通道,，滿足中紅外透射快檢需求
5.RockSolid™ 長久性準直干涉儀，讓您能夠輕松地更換分束器
6.布魯克FM技術(shù),，實現(xiàn) 6000 cm-1 到 80 cm-1中遠紅外譜區(qū)的一次性測量
7.可實現(xiàn)近紅外,、遠紅外和紫外/可見光光譜范圍的輕松升級
8.3 個輸出與 2 個輸入光束端口，可通過軟件進行選擇,。若需要,，還可提供第四個輸出端
9.兼容 VERTEX 譜儀的所有附件外部模塊
集成觸控平板電腦
集成的平板電腦觸控界面可左右直線移動，還可沿兩個方向傾斜,，給您日常的科學(xué)實驗帶來更為輕松智能的舒適體驗,。OPUS-TOUCH R&D 軟件為您簡化了工作流程、實現(xiàn)直觀的操作,。在科研級應(yīng)用中，可連接臺式電腦進行更多的高級操作和分析,。
MultiTect™ 檢測器技術(shù)
讓人難以置信但千真萬確的事實是,，布魯克的創(chuàng)新型MultiTect™檢測器技術(shù)支持同時配置多達 5 個全自動室溫檢測器，從而覆蓋從遠紅外至紫外/可見光的整個光譜范圍,。結(jié)合獨立的 DigiTect™ 檢測器插槽和 Transit™ 通道，INVENIO 可配置多達7個內(nèi)置檢測器,，并可通過軟件予以控制,。
Transit™測量通道
INVENIO 可選擇性配置一個額外的透射測量通道,，以便快速、方便地進行中紅外光譜的測量,。Transit™ 通道集成了中紅外 DTGS 檢測器，直接獲得快檢結(jié)果,，無需移除主樣品室中的大型光學(xué)附件。
光譜分辨率
INVENIO 的光譜分辨率優(yōu)于 0.16 cm-1,，可滿足幾乎 一切氣態(tài)與凝聚態(tài)樣品(例如,，固態(tài)或液態(tài)樣品)的 測量要求,。
寬光譜范圍
INVENIO 可選擇性地配備光源、任意數(shù)量的分束器 和檢測器,，以覆蓋從 15 cm-1 到 28,000 cm-1,，也就是 從超遠紅外至紫外/可見光的整個光譜范圍,。得益 于長久準直的 RockSolid™ 干涉儀、布魯克*的 MultiTect™ 檢測器技術(shù)和多個內(nèi)部與外部光源位置,，改變光譜范圍變成了一項十分簡單的任務(wù)。只需 添加相應(yīng)譜區(qū)的光學(xué)元件(檢測器,、分束器和光源) ,，即可輕松地將每臺 INVENIO 升級到全譜區(qū)范圍,。
布魯克 FM 技術(shù)
布魯克的FM中遠紅外同步技術(shù)由其*的超 寬范圍分束器和寬范圍 DLaTGS 檢測器組成,。 結(jié)合標準內(nèi)部紅外光源，可通過一次性測量而無需 更換任何光學(xué)元件,，生成從 6000 cm-1至80 cm-1 的 完整遠,、中紅外光譜圖。
新一代智能型研究級光譜儀
INVENIO 的創(chuàng)新型儀器設(shè)計體現(xiàn)在多個方面,， 例如，可向?qū)捁庾V范圍輕松升級的能力,、優(yōu)化的方 便更換附件的 QuickLock 功能,、帶有創(chuàng)新型磁性 基座的電子編碼窗口、可自動識別的樣品支架、用于驗證與定制濾光器的 8 檔濾光器輪,，以及用于高靈敏度檢測器或用于衰減外部光源或激光 的內(nèi)置5級自動衰減器輪,。內(nèi)置獨立 CPU 的強大 電子單元為將來各種技術(shù)升級打下基礎(chǔ)。
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