智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀說明書
智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種*的測(cè)量介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,,用于工頻高壓下,,測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管,、電力電纜,、電容器,、互感器,、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx),。它淘汰了QSI高壓電橋,具有操作簡(jiǎn)單,、中文顯示,、打印,使用方便,、無需換算,、自帶高壓,抗*力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),。體積小、重量輕,,是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀,。
二、智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀說明書技術(shù)指標(biāo)
1,、環(huán)境溫度:0~40℃(液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)日照)
2,、相對(duì)濕度:30%~70%
3、供電電源:電壓:220V±10%,,頻率50±1Hz
4,、外形尺寸:長(zhǎng)×寬×高=4900mm×300mm×390mm
5、重量:約18kg
6,、輸出功率:1KVA
7,、顯示分辨率:4位
8,、測(cè)量范圍:
介質(zhì)損耗(tgδ):0-50%
電容容量(Cx)和加載電壓:
2.5KV檔:≤300nF(300000pF)
3KV檔:≤200nF(200000pF)
5KV檔:≤ 76nF( 76000pF)
7.5KV檔:≤ 34nF( 34000pF)
10 KV檔:≤ 20nF( 20000pF)
9、基本測(cè)量誤差:
介質(zhì)損耗(tgδ):1%±0.07%(加載電流20μA~500mA)正接
介質(zhì)損耗(tgδ):2%±0.09%(加載電流 5μA~ 20mA)反接
電容容量( Cx ):1.5%±1.5pF