產(chǎn)品概述：

手持式局部放電檢測(cè)儀，設(shè)計(jì)用于檢測(cè)中高壓（MV/HV）設(shè)備中的局部放電源,，放電源往往具有潛伏期,，絕緣性能也可能會(huì)由于局部放電以外的其它原因而失效。如果沒(méi)有檢測(cè)到放電,，不一定就意味著設(shè)備無(wú)放電活動(dòng),。如果檢測(cè)并判斷出到與中高壓電力系統(tǒng)相連的設(shè)備中有相當(dāng)大的放電，則應(yīng)該立即通知對(duì)設(shè)備負(fù)責(zé)單位,。

操作環(huán)境要求: 

當(dāng)使用手持式局部放電檢測(cè)儀的TEV 測(cè)量模式時(shí),，必須遵守以下幾點(diǎn)：  
(1) 在空間窄小的角落中工作時(shí)，必須小心謹(jǐn)慎,，因?yàn)榕R近其它的接地體30cm或以下會(huì)影響讀數(shù)的精度,。 
(2) 從高頻無(wú)線通訊工具shou機(jī)、RF 發(fā)射機(jī),、視頻顯示器以及無(wú)屏蔽的高頻電子器件產(chǎn)生的直流至 1 GHz 頻率范圍內(nèi)的強(qiáng)烈電磁干擾可以影響讀數(shù),。將多功能局部放電檢測(cè)儀放在自然空氣中離開(kāi)任何導(dǎo)電表面至少1米處就可以測(cè)量本地電磁場(chǎng)。 
注:TEV模式即選擇地電壓測(cè)量模式; 超聲波模式即選擇超聲波測(cè)量模式

產(chǎn)品別稱：

多功能局部放電在線檢測(cè)儀,局部放電測(cè)試儀,局部放電測(cè)量?jī)x,，局部放電測(cè)試系統(tǒng)

常用的名詞術(shù)語(yǔ)：

（1）局部放電
局部放電是指在絕緣的局部位置放電,，它并不構(gòu)成整個(gè)絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內(nèi)部放電（在介質(zhì)內(nèi)部）,、沿面放電（在介質(zhì)表面）,、電暈放電（在電極）。
（2）電荷量q
在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量,，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同,，此注入量即為局部放電的視在電荷量。
（3）視在放電量校準(zhǔn)器
視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器,，試驗(yàn)前它以輸出某固定電量加之試品兩端,，模擬該試品在此電量下放電時(shí)局部放電測(cè)試儀的響應(yīng)，此時(shí)調(diào)整刻度系數(shù),，確定局部放電檢測(cè)儀的量程,，以便在試驗(yàn)時(shí)測(cè)量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時(shí)以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測(cè)出,，而非直接測(cè)出,，故此放電量稱為“視在放電量”。
校正電量發(fā)生器是測(cè)量局部放電時(shí)*的儀器,，它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,。
視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器和校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成，其參數(shù)主要包括：脈沖波形上升時(shí)間,、衰減時(shí)間,、內(nèi)阻,、脈沖峰值、校準(zhǔn)電容值等,。
校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時(shí)間為從0.1U0到0.9U0的時(shí)間,，衰減時(shí)間定義為從峰值下降到0.1U0的時(shí)間。
（4）檢測(cè)阻抗
檢測(cè)阻抗是拾取檢測(cè)信號(hào)的裝置,，在使用中,，應(yīng)根據(jù)不同的測(cè)試目的，被試品的種類來(lái)選擇合適的檢測(cè)阻抗,，以提高局部放電測(cè)量的靈敏度,、分辨能力、波形特性及信噪比,。
（5）時(shí)間窗(門(mén)單元)
時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號(hào)進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計(jì)的一種電路裝置,。因在實(shí)際試驗(yàn)時(shí)，尤其是在現(xiàn)場(chǎng)做試驗(yàn)時(shí),，不可避免地會(huì)引入一些干擾,，所以，時(shí)間窗的使用更顯得重要,。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、配有功能自檢器,。該附件的目的是要在對(duì)開(kāi)關(guān)柜等電氣設(shè)備進(jìn)行測(cè)量之前,，先驗(yàn)證是否處于可正常工作的狀態(tài)，并不是用來(lái)校準(zhǔn)儀器,。
2,、局部放電檢測(cè)儀功能自檢器依賴于上的充電接口輸出的模擬TEV與超聲波固定幅度的信號(hào)源激勵(lì)工作。 
3,、為了檢查是否工作正常,，可以在儀器開(kāi)機(jī)的狀態(tài)下將功能自檢器插入儀器的充電接口中，并分別選擇 TEV 或超聲波模式,。使功能檢查器貼近接觸的內(nèi)置TEV傳感器及超聲波傳感器,。隨著功能檢查器距離板面 越來(lái)越近，讀數(shù)會(huì)隨之相應(yīng)增加,，,。驗(yàn)證儀器在 TEV 模式以及超聲波模式下測(cè)量的情形。