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鍍層測厚儀的工作原理和測量方法
閱讀：3732 發(fā)布時間：2021-9-1
鍍層厚度測量已成為加工工業(yè),、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品國際化,，我國出口商品和涉外項目中,，對鍍層厚度有了明確要求,。
工作原理：
鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來,。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞,。同時,，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
測量方法：
鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法,，光截法,，電解法，厚度差測量法,，稱重法,，X射線熒光法，β射線反向散射法,，電容法,、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,，測量手段繁瑣,，速度慢，多適用于抽樣檢驗,。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層,、雙鍍層,、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量,。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用,。