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萬(wàn)睿視VAREX非晶硅平板探測(cè)器DR和非晶硒的區(qū)別

時(shí)間:2020/5/13閱讀:4484
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萬(wàn)睿視VAREX非晶硅平板探測(cè)器DR和非晶硒的區(qū)別

1、結(jié)構(gòu)不同,。非晶硅平板探測(cè)器的結(jié)構(gòu)主要是由閃爍體和感光體(具有光電二極管作用的非晶硅層)集成在一起再加TFT陣列構(gòu)成;非晶硒平板探測(cè)器的結(jié)構(gòu)主要是由非晶硒層加TFT陣列構(gòu)成。

2、A/D轉(zhuǎn)換原理不同,。非晶硅原理是閃爍體經(jīng)X射線曝光后,將X射線光子轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光,,而后由具有光電二極管作用的非晶硅層變?yōu)閳D像電信號(hào),,通過(guò)TFT檢測(cè)陣列,,再經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換終獲得數(shù)字化圖像;非晶硒原理是非晶硒層經(jīng)X射線曝光后直接產(chǎn)生e799bee5baa6e79fa5e98193e58685e5aeb931333431363036電信號(hào),,通過(guò)TFT檢測(cè)陣列,,再經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換終獲得數(shù)字化圖像。

3,、熒光材料層和探測(cè)元陣列層的不同,。非晶硒平板探測(cè)器要比非晶硅平板探測(cè)器在圖像質(zhì)量上更清晰,銳利度更好,。

4,、非晶硒平板探測(cè)器在使用過(guò)程中對(duì)工作環(huán)境要求非常高,壽命短,,故障率高,,而且維護(hù)成本遠(yuǎn)大于非晶硅平板探測(cè)器,因此目前市場(chǎng)上平板探測(cè)器以非晶硅平板占主導(dǎo)位置,。

平板主要是非晶硅平板探測(cè)器和非晶硒平板探測(cè)器,,非晶硅是間接成像,技術(shù)成熟,,GPS都在用,。非晶硒是真正意義上的直接成像,那這兩者所區(qū)別,。

平板探測(cè)器構(gòu)成的DR主要分為兩種:一種是非晶硅平板探測(cè)器,屬于間接能量轉(zhuǎn),;另一種是非晶硒平板探測(cè)器,屬于直接能量轉(zhuǎn)換方式。

 

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