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JX-2000A型顯微顆粒圖像分析儀
分析系統(tǒng)包括光學顯微鏡,、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件,、電腦,、打印機等部分組成。因為粉體形態(tài)各異,，在借助激光粒度儀測試的同時,，選用JX-2000A型圖像分析儀，可以更準確的直觀粒度形貌,，控制好產品質量,。
顆粒圖像測試原理：
顆粒在圖像儀上成像，組成圖像的最小單位是像素,，每個像素有特定的尺寸,。通過對顆粒數(shù)量和每個顆粒所包含的像素數(shù)量的統(tǒng)計，計算出每個顆粒的等面積圓的直徑,，以及長徑比等,，再對所有的顆粒進行統(tǒng)計，從而得到粒度分布等信息,。
圖像分析的主要過程是：
樣品經顯微鏡放大成像,，攝像頭攝得清晰顆粒形貌圖像傳輸?shù)诫娔X，在電腦上直接觀察粉體顆粒的形貌,，通過專有軟件計算分析,，得到顆粒個數(shù)、面積,、周長,、直徑、體積,、長徑比,、短徑比、圓度系數(shù)等分布數(shù)據(jù)及圖像,。同時提供D10,、D50,、D90、D97,、平均粒徑,、表面積等數(shù)據(jù)分布圖表。
應用領域
金剛石,、碳化硅,、硅灰石、石英粉,、硫酸鋇,、石墨、鈷酸鋰,、碳化硼,、白剛玉、氧化鈰云母粉,、碳粉,、金屬粉等各種礦粉：
玻珠、水泥,、藥品,、食品、顏料,、粉塵,、農藥、催化劑等各種粉體或漿料,。
還可以用于驗證其他粒度測試的手段和方法,。
技術參數(shù)
序號 | 項目 | 指標 |
1 | 分析項目 | 粒度分布、長徑比分布,、圓形度分布等 |
2 | 測試范圍 | 0.5～3000μm |
3 | 放大倍數(shù) | 4000倍 |
4 | 分辨率 | 0.1μm |
5 | 顯微鏡 | 透射顯微鏡（可選國產/金相/進口） |
6 | 數(shù)字攝像頭(CCD) | 300萬像素/500萬像素 |
7 | 目鏡 | 10X ,、16X |
8 | 物鏡 | 4X 、10X ,、20X,、 40X、100X |
9 | 標尺刻度 | 10μm |
10 | 接口方式 | USB接口高速穩(wěn)定傳輸 |
報告輸出
1,、通過對圖像進行處理后,，電腦自動統(tǒng)計出顆粒個數(shù)、面積,、周長,、體積,、直徑,、圓形度分布,、長徑比分布、粒度分布數(shù)據(jù),，以及D10,、D50、D90,、D97,、平均粒徑、表面積等特征值,。
2,、可將樣品彩色縮略圖顯示到報告中，樣品名稱,、測試單位,、分散介質等多項信息輸入到報告表頭，可選多種報告格式,。
JX-2000A型顯微顆粒圖像分析儀
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