Trimos TR-Scan 3D光學(xué)表面輪廓粗糙度儀 ,，系統(tǒng)采用TRIMOS技術(shù)數(shù)字全息三維顯微測量技術(shù)（DHM）,，廣泛應(yīng)用于高精密微觀表面檢查。與傳統(tǒng)非接觸測量技術(shù)相比,，測量速度快,，對震動不敏感，真正的實現(xiàn)三維形貌納米級測量,。

TR-Scan 3D光學(xué)表面輪廓粗糙度儀

TR-Scan系列非接觸表面微觀形貌(粗糙度)測量儀,，系統(tǒng)采用TRIMOS技術(shù)數(shù)字全息三維顯微測量技術(shù)(DHM)，廣泛應(yīng)用于高精密微觀表面檢查,。與傳統(tǒng)非接觸測量技術(shù)相比,，測量速度快，對震動不敏感,，真正的實現(xiàn)三維形貌納米級測量,。模塊化的設(shè)計理念，可配置共焦顯微系統(tǒng), 探針測量系統(tǒng),，傳感器直接更換,，方便快捷，極大的滿足了不同的應(yīng)用范圍,。即可用于計量單位和材料科學(xué)研發(fā)實驗室,，也廣泛應(yīng)用在工業(yè)制造領(lǐng)域：汽車、航天,、航空,、表面涂層、醫(yī)療產(chǎn)品,、微型電機系統(tǒng),、半導(dǎo)體等行業(yè)。

3D光學(xué)表面輪廓粗糙度儀主要特點：
◆ 非接觸式測量原理,，無損化檢測粗糙度,，微觀形貌
◆ *的數(shù)字全息三維顯微技術(shù)，真正實現(xiàn)3D微觀形貌測量
◆ 創(chuàng)新的成像原理,，從原理上保證了對外界振動不敏感,，Z軸分辨率高
◆ 激光找正工件并自動定位，測量速度快 
◆ 模塊化的設(shè)計概念,，多種光學(xué)光路原理,，直接更換傳感器,，不需要調(diào)整，方便快捷
◆ 可非標定制相應(yīng)的測量頭,，滿足不同客戶的特殊工件測量要求
◆ 即可選用數(shù)字全息技術(shù)實現(xiàn)高精密表面測量,，也可選用色譜共焦技術(shù)實現(xiàn)微觀輪廓測量或選用接觸式探針實 現(xiàn)內(nèi)壁粗糙度測量
◆ 慣用了Trimos“智能用戶界面”的理念,，測量過程全 自動,，操作簡單
◆ 采用專業(yè)的3D形貌分析軟件，功能強大,，即可實現(xiàn)2D輪廓測量,，也可進行3D形貌分析
◆ 可進行編程批量檢測并自動生成分析報告
◆ *兼容2D標準，并已內(nèi)置即將制定的3D標準

軟件特點：
TRIMOS NanoWare軟件,，擁有的評價標準程序來實時更新標準測量符合以下標準：ISO (4287,、4288、11562,、1101,、12085、13563等),，法國標準NF,，制造標準CNOMO，ASME (B46.1) 和DIN標準,；三維表面特征數(shù)據(jù)標準ISO 25178系列同樣有效,。

TRIMOS® NanoWare LT特點：
用于二維輪廓粗糙度測量分析的基本模塊。操作簡便,，包含用于表面檢查,，分析形貌，粗糙度和波紋度測量的重要功能,。
◆ 常用參數(shù)要求數(shù)據(jù)Ra,、Rq、Rt,、線性材料曲率
◆ 過濾方式,、水平、放大
◆ 所有測量可復(fù)現(xiàn)三維形貌
TRIMOS® NanoWare STT：  
◆ 3軸測量基本模塊. 包含分析輪廓的所有功能及       符合ISO 25178表面分析   
◆ 3D基本參數(shù)(Sa, Sq, St, Smr, ...)   
◆ 表面圖形仿真   
◆ 距離, 高度及角度測量   
◆ 成型, 拉平, 視圖等濾波器   
◆ zui終結(jié)果管理   
◆ 測量點管理/再采集   
◆ 輪廓提取, 體積測量 
TRIMOS® NanoWare PRO：  
2D及3D表面特征評估zui完整版本,。此模塊綜合了表面測量領(lǐng)域15年以來的經(jīng)驗,。
◆ 市場上zui高性能的軟件   
◆ 表面圖層研究   
◆ 3D形貌鑒定   
◆ 表面及輪廓統(tǒng)計分析及研究 

 

可選測頭：

 

TR-Scan 3D光學(xué)輪廓粗糙度儀應(yīng)用示例：