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技術(shù)文章

激光測量平面度的方法

閱讀:4107          發(fā)布時(shí)間:2020-8-24

 

                                                         激光測量平面度的方法

平面度,,是屬于形位公差中的一種,,指物體表面具有的宏觀凹凸高度相對理想平面的偏差。在傳統(tǒng)的檢測方法中,,平面度的測量通常有:塞規(guī)/塞尺測量法,、液平面法、激光平面干涉儀測量法(平晶干涉法),、水平儀/數(shù)字水平儀測量法,、以及打表測量法。

  塞尺測量法,,只需一套可隨身攜帶的塞尺就可隨時(shí)隨地進(jìn)行平面度的粗測,。目前很多工廠仍使用該方法進(jìn)行檢測。由于其精度不高,,常規(guī)塞尺為10um,,檢測效率較低,結(jié)果不夠全面,,只能檢測零件邊緣。

  液平面法,,基于連通器工作原理,,適合測量連續(xù)或不連續(xù)的大平面的平面度,但測量時(shí)間長,,且對溫度敏感,,僅適用于測量精度較低的平面。

  激光平面干涉儀測量法,,典型的用法是平晶干涉法,。但主要于測量光潔的小平面的測量,如千分頭測量面,,量規(guī)的工作面,,光學(xué)透鏡。

  水平儀測量法,,廣泛用于工件表面的直線度和平面度測量,。測量精度高、穩(wěn)定性好,、體積小,、攜帶方便,。但是用該方法測量時(shí)需要反復(fù)挪動儀器位置,記錄各測點(diǎn)的數(shù)據(jù),,費(fèi)時(shí),、費(fèi)力,調(diào)整時(shí)間長,,數(shù)據(jù)處理程序繁瑣,。

  打表測量法,典型應(yīng)用為平板測微儀及三坐標(biāo)儀,,其中優(yōu)以三坐標(biāo)儀為應(yīng)用廣泛,。測量時(shí)指示器在待測樣品上移動,按選定的布點(diǎn)測取各測量點(diǎn)相對于測量基準(zhǔn)的數(shù)據(jù),,再經(jīng)過數(shù)據(jù)處理評定出平面度誤差,。但其效率較低,通常一個(gè)樣品需要幾分鐘,,離15ppm的期望相差甚遠(yuǎn),。

     我們可以提供激光測量平面度的方法,利用德國lamtech激光平面度測量儀,,可以快速測量平面度,,如航空航天,汽車工業(yè)噴油嘴行業(yè),,泵,、閥門密封件表面,以及光學(xué)工程,,激光工程等領(lǐng)域都有應(yīng)用,。

    該激光測量平面度的方法測量效率高,精度高,,檢測一個(gè)只要1-3秒,,可以實(shí)現(xiàn)100%全檢。

 

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