薄膜測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,,放射測厚法,,電解測厚法,渦流測厚法,,超聲波測厚法,。在做測厚的時(shí)候要注意以下八點(diǎn):
1、在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似,。
2,、在測量的時(shí)候要注意,側(cè)頭與試樣表面保持垂直,。
3,、在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
4,、在測量的時(shí)候要注意試件的曲率對測量的影響,。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。
5,、測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場,,如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測厚法。
6,、測量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量,,因?yàn)橐话愕谋∧y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
7,、在測量時(shí)要保持壓力的恒定,,否則會(huì)影響測量的讀數(shù)。
8,、在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,,因此超聲波薄膜測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
二,、超聲波薄膜測厚儀主要功能:
1,、超聲波薄膜測厚儀適合測量金屬(如鋼、鑄鐵,、鋁,、銅等)、塑料,、陶瓷,、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度,;
2,、可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的探頭使用,;
3,、具有探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能,可對系統(tǒng)誤差進(jìn)行自動(dòng)修正,;
4,、已知厚度可以反測聲速,以提高測量精度,;
5,、具有單點(diǎn)測厚和掃描測厚兩種測厚工作模式;
6,、可預(yù)先設(shè)置厚度值上,、下限,,超出范圍自動(dòng)報(bào)警,;
7,、具有耦合狀態(tài)提示功能;
8,、有EL背光顯示,,方便在光線昏暗環(huán)境中使用;
9,、有剩余電量指示功能,,可實(shí)時(shí)顯示電池剩余電量;
10,、超聲波薄膜測厚儀具有自動(dòng)休眠,、自動(dòng)關(guān)機(jī)等節(jié)電功能;
11,、帶有RS232接口,,可以方便、快捷地與PC機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交換和參數(shù)設(shè)定,??梢赃B接到微型打印機(jī)(廠家型號(hào))打印測量報(bào)告。
12,、可選擇配備微機(jī)軟件,,具有傳輸測量結(jié)果、測值存儲(chǔ)管理,、測值統(tǒng)計(jì)分析,、打印測值報(bào)告等豐富功能;
13,、超聲波薄膜測厚儀密封的金屬外殼,,小巧、便攜,、可靠性高,,適用于惡劣的操作環(huán)境,抗振動(dòng),、沖擊和電磁干擾,;超聲波薄膜測厚儀在測量前要做二點(diǎn)校準(zhǔn)和零點(diǎn)校準(zhǔn),二點(diǎn)校準(zhǔn)就是把標(biāo)準(zhǔn)膜片放在金屬基片上測試,,如果在允許誤差就不需要進(jìn)行二點(diǎn)測試,,如果誤差很大校準(zhǔn)結(jié)束后在測試標(biāo)準(zhǔn)片,直到顯示的數(shù)據(jù)正常為止,。零點(diǎn)校準(zhǔn)就是將機(jī)器打開調(diào)到零點(diǎn)校準(zhǔn)的模式,,在被測工件上測試然后完成就可以。
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