DRK203 臺式高精薄膜測厚儀 箔片硅片厚度儀，儀器依據如下標準制作：GB/T 6672,、GB/T 451.3,、GB/T 6547、ASTM D645,、ASTM D374,、ASTM D1777。

DRK203 臺式高精薄膜測厚儀 箔片硅片厚度儀,，儀器適用于塑料薄膜,、薄片、隔膜,、箔片,、硅片等各種材料的厚度精確測量。

【技術參數(shù)】

1. 測量范圍：0～3mm
2. 分辨率：0.1μm    精度：1級
3. 測量速度：5次/min（可調）,；測頭移動速度：3mm/s（可調）

4. 接觸面積：28mm (直徑6mm）  非標可定制

【產品特點】
1. 接觸式測量
2. 測頭自動升降
3. 自動測量模式
4. 數(shù)據實時顯示,、自動統(tǒng)計、打印
5. 顯示最大值,、最小值,、平均值和統(tǒng)計偏差
6. 標準接觸面積、標定壓強
7. 標準量塊標定測量參數(shù)

8. 數(shù)據分析功能

山東德瑞克儀器股份有限公司自2004年成立以來始終秉承以技術創(chuàng)新成就企業(yè)價值的理念,，不斷推陳出新,。坐落于濟南時代總部基地，內設核心研發(fā)部,，長期從事行業(yè)技術探索創(chuàng)新,。同時公司與國內外高等院校及科研機構保持合作關系，互利共贏。
公司先后為國內外多個省份及地區(qū)提供實驗室解決方案及配套設備,。業(yè)務范圍涵蓋：科研單位,、質檢機構、大專院校,、醫(yī)院,、化驗室、防護fu,、包裝,、造紙、印刷,、橡塑,、化工、食品,、紡織等不同領域,。