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X射線三維顯微鏡的成像原理遵從幾何光學(xué)原理
X射線三維顯微鏡是X射線成像術(shù)的一種,，也是顯微成像技術(shù),，即將微觀的,、肉眼無法分辨看出的結(jié)構(gòu),、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X射線成像的襯度原理,、設(shè)備的構(gòu)造與主要組成部件(如X射線源,、探測器等)，但主要是從宏觀物體的成像(如人體器管的醫(yī)學(xué)成像,、機械制品的缺陷探傷,、機場車站的安全檢查等)出發(fā)的。宏觀成像與微觀成像有相通之處,，如襯度原理,、設(shè)備的主要組成部件等，但也有區(qū)別,。由于X射線顯微鏡是用來觀察肉眼無法分辨的微觀結(jié)構(gòu)與圖形,，因而在儀器結(jié)構(gòu)和要求上有顯著不同，如要求光源尺寸小而強度大,，要將像放大和高分辨等
X射線三維顯微鏡成像原理與光學(xué)顯微鏡基本上是一樣的，遵從幾何光學(xué)原理,，其關(guān)鍵部件是成像和放大作用的光學(xué)元件,，在光學(xué)顯微鏡中為透鏡。由于X射線的波長很短,，在玻璃和一般物質(zhì)界面上的折射率均接近1,，故其成像放大元件不能用玻璃透鏡,，一般用波帶片。
此外,，它們同樣利用吸收襯度和位相襯度成像,，同樣要求有強光源及像探測器。對光學(xué)顯微鏡,，一般用肉眼觀察,，故常加一目鏡起進(jìn)一步放大的作用。在X射線顯微鏡中當(dāng)然不能用眼晴直接觀察,，可用CCD等面探測器探測,。顯微鏡的重要性能指標(biāo)兩者是相似的，有放大倍數(shù),、分辨力,、像差等幾個。X射線顯微鏡的一般構(gòu)造:從強光源來的光束先經(jīng)聚焦元件(在此為毛細(xì)管透鏡聚焦)使光斑尺寸變小,、亮度加大,，然后射到樣品上，透過樣品的光,，再經(jīng)成像放大元件(在此為波帶片)而到達(dá)探測器(在此為閃爍體加CCD),。成像波帶片和探測器之間有一個Au位相補償環(huán)，在相襯成像時用,。