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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,，國(guó)產(chǎn)自主研發(fā)，相比2400,，B2901進(jìn)口源表,，測(cè)量范圍更廣，電壓高300V,，電流低至100pA；可進(jìn)行自我限制,，避免因過(guò)充而造成的對(duì)測(cè)試器件的損害,；
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀表簡(jiǎn)介
S 系列源表是普賽斯歷時(shí)多年打造的高精度、大動(dòng)態(tài),、數(shù)字觸摸源表,，匯集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能,，最大輸出電壓達(dá) 300V ,，最大輸出電流達(dá) 1A ，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測(cè)試中,。 S 系列源表適用于各行各業(yè)使用者,，特別適合現(xiàn)代半導(dǎo)體、納米器件和材料,、有機(jī)半導(dǎo)體,、印刷電子技術(shù)以及其他小尺寸、低功率器件特性分析,。
產(chǎn)品特點(diǎn)
? 5寸 800*480觸摸顯示屏,，全圖形化操作
? 內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，加速用戶完成測(cè)試,，如 LIV,、 PIV
? 源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為 0.1%，分辨率 5數(shù)位
? 四象限工作（源和肼）,，源及測(cè)量范圍：電流 100pA~1A,，電壓 0.3mV~300V
? 豐富的掃描模式，支持線性掃描,、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
? 支持 USB存儲(chǔ),，一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告
? 支持多種通訊方式， RS-232,、 GPIB及以太網(wǎng)
技術(shù)指標(biāo)
源限度 | 電壓源: ±30V (≤1A量程) , ±300V (≤100mA量程) ; |
電流源 | ±1.05A(≤30V量程),，±105mA (≤300V量程) ; |
過(guò)量程 | 105%量程,源和測(cè)量; |
穩(wěn)定負(fù)載電容 | <22nF ; |
寬帶噪聲(20MHz) | 2mV RMS(典型值)，<20mV Vp-p(典型值); |
線纜保護(hù)電壓 | 輸出阻抗1KΩ ,輸出電壓偏移<80uV ; |
最大采樣速率 | 1000采樣點(diǎn)/秒; |
觸發(fā) | 支持IO觸發(fā)輸入及輸出,觸發(fā)極性可配置; |
輸出接口 | 前后面板香蕉頭插座輸出,同一時(shí)刻只能用前或者后面板接口; |
通信口 | RS-232,、GPIB,、 以太網(wǎng); |
電源 | AC 100~ 240V 50/60Hz ; |
工作環(huán)境 | 25+10°C ; |
尺寸 | 106mm高x 255mm寬x 425mm長(zhǎng); |
重量 | 5Kg ; |
質(zhì)保期 | 1年; |
電壓及電流精度：(不同型號(hào)電壓量程由差異，以選型指南為準(zhǔn))
電壓 | 源 | 測(cè)量 | ||
量程 | 分辨率 | 準(zhǔn)確度±(% rdg.+volts) | 分辨率 | 準(zhǔn)確度±(% rdg.+volts) |
300mV | 30uV | 0.1%±300uV | 30uV | 0.1%±300uV |
3V | 300uV | 0.1%±500uV | 300uV | 0.1%±500uV |
30V | 3mV | 0.1%±3mV | 3mV | 0.1%±3mV |
300V | 30mV | 0.1%±30mV | 30mV | 0.1%±30mV |
電流 | 源 | 測(cè)量 | ||
量程 | 分辨率 | 準(zhǔn)確度±(% rdg.+A) | 分辨率 | 準(zhǔn)確度±(% rdg.+A) |
100nA | 10pA | 0.1%±0.5nA | 10pA | 0.1%±0.5nA |
1uA | 100pA | 0.1%±3nA | 100pA | 0.1%±3nA |
10uA | 1nA | 0.1%±5nA | 1nA | 0.1%±5nA |
100uA | 10nA | 0.1%±50nA | 10nA | 0.1%±50nA |
1mA | 100nA | 0.1%±300nA | 100nA | 0.1%±300nA |
10mA | 1uA | 0.1%±5uA | 1uA | 0.1%±5uA |
100mA | 10uA | 0.1%±20uA | 10uA | 0.1%±20uA |
1A | 100uA | 0.1%±2mA | 100uA | 0.1%±2mA |
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀表應(yīng)用
•分立半導(dǎo)體器件特性測(cè)試,，電阻,、二極管、發(fā)光二極管,、齊納二極管,、PIN二極管、BJT三極管,、MOSFET,、SIC、GaN等器件,；
•能量與效率特性測(cè)試,，LED/AMOLED、太陽(yáng)能電池,、電池,、DC-DC轉(zhuǎn)換器等
•傳感器特性測(cè)試,，電阻率、霍爾效應(yīng)等
•有機(jī)材料特性測(cè)試,，電子墨水,、印刷電子技術(shù)等
•納米材料特性測(cè)試，石墨烯,、納米線等
