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產品簡介
詳細介紹
PID形成原因
外部原因
PID的真正原因到目前為止沒有明確的定論,，但最容易在潮濕的環(huán)境下發(fā)生，并且活躍程度與潮濕程度相關,；同時組件表面被導電性,、酸性,、堿性以及帶有離子的物體的污染程度，也與PID現象的發(fā)生有關,。據推測,，來自于鈉鈣玻璃的金屬離子是形成上述具有PID效應的漏電流的主要載流介質。
內部原因
系統(tǒng)方面
逆變器接地方式和組件在陣列中的位置,，決定了電池片和組件受到正偏壓或者負偏壓,。電站實際運行情況和研究結果表明：如果整列中間一塊組件和逆變器負極輸出端之間的所有組件處于負偏壓下，則越靠近輸出端組件的PID現象越明顯,。而在中間一塊組件和逆變器正極輸出端中間的所有組件處于正偏壓下,，PID現象不明顯。
組件方面
環(huán)境條件,，如濕度等的影響導致了漏電流的產生,。
電池方面
電池片由于參雜不均勻導致方塊電阻不均勻；優(yōu)化電池效率而采用的增加方塊電阻會使電池片更容易衰減,，導致容易發(fā)生PID效應,。
PID測試儀器組成
測試所需主要儀器為：
步入式環(huán)境測試箱；
絕緣耐壓測試儀,；
接地連續(xù)性測試儀,；
PID測試直流電壓源（數字源表）；
HALM太陽模擬器（AAA+級）,；
EL測試儀等,。
PID測試的標準
PID 測試標準引自 IEC 62804 （Draft）
根據IEC61730-2 MST 01進行外觀檢測；
根據IEC61215第二版進行最大功率測試
根據IEC61215第二版條目10.15進行濕漏電流測試,；
如果組件有裸露的導電部位,，則要根據IEC61730-2 MST13進行接地連續(xù)性測試。
PID測試連線圖以及測試電源要求
PID測試連線圖
測試所需電源需求
電源電壓：-1500V～0V/ 0～+1500V
電源時漂：≤0.3%/h
電源溫漂：≤0.5‰/℃
電源紋波：≤0.5%
電流范圍：1～1000 uA /-1000 uA～-1
試驗時間：0～168h
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