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數字源表iv掃描LDO芯片電性能認準武漢生產廠家普賽斯儀表,，普賽斯數字源表國產自主研發(fā),，性價比高，測試范圍更廣,，輸出電壓高達300V,，支持USB存儲，一鍵導出報告,，符合大環(huán)境下國內技術自給的需求，可及時與客戶溝通,，為客戶提供高性價比系統解決方案,，及時指導客戶編程，加速測試系統開發(fā)

LDO芯片電學特性測試方案

1. 概述

   LDO,，全稱為“Low Dropout Regulator",，是一種低壓差線性穩(wěn)壓元器件。其工作原理為,，使用在其飽和區(qū)域內運行的晶體管或場效應管（FET）,，從應用的輸入電壓中減去超額的電壓，產生經過調節(jié)的輸出電壓,。相比于傳統的DC-DC變換器,，LDO具有成本低，噪音低，靜態(tài)電流小的特點,，需要的外接元件也很少,，因此,LDO廣泛應用于需要穩(wěn)壓輸出的場景。

                          （UTC78XX系列LDO封裝以及內部電路示意圖）

2. 

3. 源表,，SMU(Source Measure Unit)電源/測量單元,，“源"為電壓源和電流源，“表"為測量表,，“源表"即指一種可作為四象限的電壓源或電流源提供精確的電壓或電流,，同時可同步測量電流值或電壓值的測量儀表。普賽斯S系列高精度源表,，集電壓,、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體。產品最大輸出電壓達300V,，最小測試電流量程低至100pA,，支持四象限工作，因此,可廣泛應用于LDO類芯片測試,。

   

   
   

4. 常用電性能參數測試

   LDO常用的電性能參數測試,，主要包括輸出電壓、輸入輸出電壓差,、線性調整率,、負載調整率、靜態(tài)電流等,。由于LDO的測試需要分別采集輸入與輸出端的數據,，因此一般情況下，測試系統至少需要配置2臺SMU,，并采用上位機軟件(PssSMUTools)進行控制,。（以下測試均參考UTC7805規(guī)格進行）

   

   （二線法連接示意圖）

   
   

   

   （四線法連接示意圖）

   
   

   
   

5. 測試方案

6. Vo輸出電壓測試

   Vo輸出電壓，是LDO在正常工作下的穩(wěn)定輸出電壓值,。當加載在LDO輸入端的工作電壓,，在規(guī)定范圍內變動時，LDO的輸出電壓Vo穩(wěn)定在特定范圍內,。常用測試方法為,，在LDO的輸入端，加載穩(wěn)定變化的電壓,，同時測量對應的輸出端電壓值,。一般采用二線法連接即可。（參考UTC7805規(guī)格書,，其規(guī)格參數5V左右）

   操作步驟

• V_oi輸入輸出電壓差,，ΔVo線性調整率測試

  V_oi輸入輸出電壓差，是LDO正常工作時輸入端與輸出端的最小電壓差值,。ΔVo線性調整率是輸入電壓變化后對輸出電壓造成的影響,。常用測試方法為，在LDO的輸入端,，加載穩(wěn)定變化的電壓,，同時測量對應的輸出端電壓值，并計算兩端電壓測差值,，或者輸出端的變化值,。此外，為降低測試中線材的干擾,，輸入輸出電壓差測試可采用4線連接法進行測量,。（參考UTC7805規(guī)格書，V_oi值為2V左右,ΔVo值為4mV左右）

  操作步驟

• ΔVo_load負載調整率測試

  ΔVo_load負載調整率是輸出端接不同負載,，輸出端電壓的變化。由于源表可以直接當電子負載,，所以可以直接讓源表做負載,。常用測試方法為，保持LDO輸入端電壓穩(wěn)定不變,，在LDO的輸出端,，加載不同的電流值，同時測量對應的輸出端電壓值,，并計算輸出端的電壓變化值,。此外，為降低測試中線材的干擾,，該測試可采用4線連接法進行測量,。（參考UTC7805規(guī)格書，ΔVo_load值為4mV左右）

  操作步驟

• IQ靜態(tài)電流測試測試

  IQ靜態(tài)電流,，是指輸出端空載時，輸入端流進的電流,。常用測試方法為,，斷開LDO的輸出端的連接，加載不同的電流值,，在LDO輸入端加載電壓,，并測量對應的輸入端電流值,。（參考UTC7805規(guī)格書，IQ值為5mA左右）

  

  （連接示意圖）

  操作步驟