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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
對標(biāo)2450國產(chǎn)數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,，普賽斯數(shù)字源表自主研發(fā)生產(chǎn)，對標(biāo)美國2400，2450,，B2901,； 可 實現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測量同步進行，提高測試效率,； 支持四象限工作 ,， 測量范圍廣， 電壓高300V,，電流低至100pA,；可進行自我限制，避免因過充而造成的對測試器件的損害,； 5寸觸摸顯示屏圖形化操作,，內(nèi)置強大的功能軟件，加速用戶完成測試,；支持多種通訊方式,，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)
源表特點：
多功能： 可作源和負(fù)載,，又能測,；
高效率： 滿足多種測試需求；
可編程控制： 高精度可調(diào),，靈活控制,；
IV掃描： 快速、直觀顯示,，一步操作,。
應(yīng)用領(lǐng)域：
分立半導(dǎo)體器件特性測試，電阻,、二極管,、發(fā)光二極管、齊納二極管,、PIN二極管,、BJT三極管,、MOSFET,、SIC、GaN等器件,；
能量與效率特性測試,，LED/AMOLED、太陽能電池,、電池,、DC-DC轉(zhuǎn)換器等
傳感器特性測試，電阻率,、霍爾效應(yīng)等
有機材料特性測試,，電子墨水,、印刷電子技術(shù)等
納米材料特性測試，石墨烯,、納米線等
測試功能：
微電路 | ||
1 | 晶圓 | L-IV測試,， 輸入曲線、輸出曲線 |
2 | 芯片 | L-IV測試,， 輸入曲線,、輸出曲線 |
器件 | ||
1 | 二極管 | 正向?qū)妷骸⒄螂娏?、反向擊穿電壓,、反向漏電?/p> |
2 | 三極管 | L-IV測試， 輸入曲線,、輸出曲線 |
3 | MOSFET | L-IV測試,， 輸入曲線、輸出曲線 |
4 | IGBT | L-IV測試,， 輸出曲線,、轉(zhuǎn)移曲線 |
5 | 晶閘管 | 正向電壓電流曲線、反向電壓電流曲線,、觸發(fā)特性 |
電池 | ||
1 | 鋰電池 | IV測試,，充放電掃描曲線 |
2 | 光伏電池 | IV測試，放電掃描曲線 |
材料 | ||
1 | 石墨烯 | IV測試,、 輸入曲線,、輸出曲線 |
2 | 納米線 | IV測試、 輸入曲線,、輸出曲線 |
S系列介紹：
5寸800*480觸摸顯示屏,，全圖形化操作
內(nèi)置強大的功能軟件，加速用戶完成測試,，如LIV,、PIV
源及測量的準(zhǔn)確度為0.1%，分辨率5數(shù)位
四象限工作（源和肼）,，源及測量范圍：電流100pA~1A,，電壓0.3mV~300V
豐富的掃描模式，支持線性掃描,、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
支持USB存儲,，一鍵導(dǎo)出測試報告
支持多種通訊方式，RS-232,、GPIB及以太網(wǎng)
參數(shù)：
源限度 | 電壓源: +30V (≤1A量程) , +300V (≤100mA量程) ; |
電流源 | 士1.05A(≤30V量程),，+105mA (≤300V量程) ; |
過量程 | 105%量程,源和測量; |
穩(wěn)定負(fù)載電容 | <22nF ; |
寬帶噪聲(20MHz) | 2mVRMS(典型值)，<20mVVp-p(典型值); |
線纜保護電壓 | 輸出阻抗1K9 ,輸出電壓偏移<80uV ; |
*采樣速率 | 1000采樣點/秒; |
觸發(fā) | 支持IO觸發(fā)輸入及輸出,觸發(fā)極性可配置; |
輸出接口 | 前后面板香蕉頭插座輸出,同- -時刻只能用前或者后面板接口; |
通信口 | RS-232、GPIB,、 以太網(wǎng); |
電源 | AC 100~ 240V 50/60Hz ; |
工作環(huán)境 | 25+10°C ; |
尺寸 | 106mm高x 255mm寬x 425mm長; |
重量 | 5Kg ; |
質(zhì)保期 | 3 年; |
國產(chǎn)優(yōu)勢
1,、 自主研發(fā)，符合大環(huán)境下國內(nèi)技術(shù)自給的需求,；
2,、 性價比高；
3 ,、 可 及時與客戶溝通,，為客戶提供高性價比系統(tǒng)解決方案。及時指導(dǎo)客戶編程,， 加 速測試系統(tǒng)開發(fā),。
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