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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
數(shù)字源表有哪些廠家找普賽斯儀表,，普賽斯數(shù)字源表自主研發(fā)生產(chǎn),，對標(biāo)美國2400,，B2901； 可 實(shí)現(xiàn)“源”的輸出和“表”的測量同步進(jìn)行,，提高測試效率,； 支持四象限工作 ， 測量范圍廣,， 電壓高300V,，電流低至100pA；可進(jìn)行自我限制,，避免因過充而造成的對測試器件的損害,； 5寸觸摸顯示屏圖形化操作，內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件,，加速用戶完成測試,；支持多種通訊方式，RS-232,、GPIB及以太網(wǎng)
一,、源表定義
“源表” 又稱“數(shù)字源表”、“源測量單元”,，是 一種 可 編程控制， 作電壓源或電流源提供jing確的電壓或電流,， 并 同步測量 和 IV 掃描 的通用儀表,。
二、源表特點(diǎn)：
多功能： 可作源和負(fù)載,，又能測,；
高效率： 滿足多種測試需求；
可編程控制： 高精度可調(diào),，靈活控制,；
IV掃描： 快速、直觀顯示,，一步操作,。
三、應(yīng)用領(lǐng)域：
分立半導(dǎo)體器件特性測試,，電阻,、二極管、發(fā)光二極管,、齊納二極管,、PIN二極管、BJT三極管,、MOSFET,、SIC,、GaN等器件；
能量與效率特性測試,，LED/AMOLED,、太陽能電池、電池,、DC-DC轉(zhuǎn)換器等
傳感器特性測試,，電阻率、霍爾效應(yīng)等
有機(jī)材料特性測試,，電子墨水,、印刷電子技術(shù)等
納米材料特性測試，石墨烯,、納米線等
四,、 測試 功能：
微電路 | ||
1 | 晶圓 | L-IV測試， 輸入曲線,、輸出曲線 |
2 | 芯片 | L-IV測試,， 輸入曲線、輸出曲線 |
器件 | ||
1 | 二極管 | 正向?qū)妷?、正向電流,、反向擊穿電壓、反向漏電?/span> |
2 | 三極管 | L-IV測試,， 輸入曲線,、輸出曲線 |
3 | MOSFET | L-IV測試， 輸入曲線,、輸出曲線 |
4 | IGBT | L-IV測試,， 輸出曲線、轉(zhuǎn)移曲線 |
5 | 晶閘管 | 正向電壓電流曲線,、反向電壓電流曲線,、觸發(fā)特性 |
電池 | ||
1 | 鋰電池 | IV測試，充放電掃描曲線 |
2 | 光伏電池 | IV測試,，放電掃描曲線 |
材料 | ||
1 | 石墨烯 | IV測試,、 輸入曲線、輸出曲線 |
2 | 納米線 | IV測試,、 輸入曲線,、輸出曲線 |
五、 S系列介紹：
特點(diǎn)：
1,、 5寸800*480觸摸顯示屏,，全圖形化操作
2、 內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件,，加速用戶完成測試,，如LIV,、PIV
3、 源及測量的準(zhǔn)確度為0.1%,，分辨率5數(shù)位
4,、 四象限工作（源和肼），源及測量范圍：電流100pA~1A,，電壓0.3mV~300V
5,、 豐富的掃描模式，支持線性掃描,、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
6,、 支持USB存儲，一鍵導(dǎo)出測試報(bào)告
7,、 支持多種通訊方式,，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)
參數(shù)：
源限度 | 電壓源: +30V (≤1A量程) , +300V (≤100mA量程) ; |
電流源 | 士1.05A(≤30V量程),，+105mA (≤300V量程) ; |
過量程 | 105%量程,源和測量; |
穩(wěn)定負(fù)載電容 | <22nF ; |
寬帶噪聲(20MHz) | 2mVRMS(典型值),，<20mVVp-p(典型值); |
線纜保護(hù)電壓 | 輸出阻抗1K9 ,輸出電壓偏移<80uV ; |
大采樣速率 | 1000采樣點(diǎn)/秒; |
觸發(fā) | 支持IO觸發(fā)輸入及輸出,觸發(fā)極性可配置; |
輸出接口 | 前后面板香蕉頭插座輸出,同- -時(shí)刻只能用前或者后面板接口; |
通信口 | RS-232、GPIB,、 以太網(wǎng); |
電源 | AC 100~ 240V 50/60Hz ; |
工作環(huán)境 | 25+10°C ; |
尺寸 | 106mm高x 255mm寬x 425mm長; |
重量 | 5Kg ; |
質(zhì)保期 | 3 年; |
六 ,、國產(chǎn)優(yōu)勢
1、 自主研發(fā),，符合大環(huán)境下國內(nèi)技術(shù)自給的需求,；
2、 性價(jià)比高,；
3 、 可 及時(shí)與客戶溝通,，為客戶提供高性價(jià)比系統(tǒng)解決方案,。及時(shí)指導(dǎo)客戶編程， 加 速測試系統(tǒng)開發(fā),。
