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ZB-2000四探針方阻電阻率測試儀采用四探針雙電測量方法,，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校,、科研部門,，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料,。液晶顯示,，無需人工計算,，并帶有溫度補(bǔ)償功能,，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程,，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置,。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出,，結(jié)構(gòu)合理,、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全,、使用方便,；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù),，自動生成報表,；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻,、電阻率,、方阻、溫度,、單位換算,、溫度系數(shù)、電流、電壓,、探針形狀,、探針間距、厚度 ,、電導(dǎo)率,，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購,。

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量,。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針,、電壓探針的變換,，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析,，自動消除樣品幾何尺寸,、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比,，大大提高精確度,，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,，高,、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布,、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉,、燒結(jié),、濺射、涂覆,、涂布層,，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導(dǎo)體材料,、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層,、外延層,、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓,、太陽能電池,、電子元器件,，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜,，導(dǎo)電漆膜,，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜,，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆,，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料,，導(dǎo)電性橡膠,，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜,，抗靜電材料,， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維,，導(dǎo)電性陶瓷等,。

四探針方阻電阻率測試儀技術(shù)參數(shù)：

1.方塊電阻范圍：10-5～2×106Ω/□

2.電阻率范圍：10-6～2×106Ω-cm

3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA,，10μA,，100µA，1mA,，10mA,，100 mA

4.電流精度：±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、溫度系數(shù)、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度 ,、電導(dǎo)率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭,； 選購3.直線形探頭,； 選購4.測試平臺

11.測試探頭：  探針間距選購：1mm；2mm,；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針,；鍍金磷銅半球形針,。