KT-Z1604T探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器,，半導(dǎo)體,，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試,。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜,、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性,，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本,。
該探針臺(tái)的承載臺(tái)為60x60不銹鋼臺(tái)面，臺(tái)面最高可升溫到最高350℃。真空腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口,。探針臂為X/Y/Z三軸移動(dòng),，三個(gè)方向均可在真空環(huán)境下精密移位調(diào)節(jié)，其中X方向調(diào)節(jié)范圍：0－30mm,；y方向調(diào)節(jié)范圍：0－20mm,；z方向調(diào)節(jié)范圍：0－20mm；用戶可根據(jù)需要自行調(diào)節(jié),。使用時(shí)將需檢測(cè)的器件固定在加熱臺(tái)上,，再微調(diào)探針支架X/Y/Z 方向行程，通過顯微鏡觀察,，使探針對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)點(diǎn)后,，即可進(jìn)行檢測(cè)
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