產品簡介
詳細介紹
JH-Ⅵ-4介電常數測試儀 是各種電瓷,、裝置瓷、電容器等陶瓷制品的一項重要的物理性質,,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),,可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據,;該儀器廣泛應用于大專院校,、科研院所對無機非金屬新材料性能的應用研究。儀器遵從標準:GB/T5594.4-1985,。
JH-Ⅵ-4介電常數測試儀 主要技術指標:
1.頻率范圍及刻度誤差
范圍:50KHz~50MHz共分七個波段,,允許誤差:+2%
1.1:50~150KHz;
1.2:150~450KHz
1.3:450~1500KHz,;
1.4:1.5~4.5MHz+
1.5:4.5~12MHz,;
1.6:12~25MHz
1.7:25~50MHz;
2.Q值測量范圍及誤差
范圍:5~500
誤差:1)當頻率從5~25KHz
量程5~50 +5%
量程15~150 +5%
量程50~500 +7%
2)當頻率從25~50MHz,,所有量程均為+10%
3)△Q范圍:-25 ~ 0 ~ +25,。
3.電感測量范圍及誤差
范圍:0.1μH~100mH
誤差:+5%+0.01μH
4.試樣尺寸
圓片形:厚度2+0.5mm,直徑為Φ30~40mm(ε<12時)
Φ25~35mm(ε=12~30時)
Φ15~20mm(ε>30時)