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透射掃描電鏡檢測技術(shù)服務(wù)
閱讀：1435 發(fā)布時間：2019-12-18技術(shù)服務(wù)介紹
透射電子顯微鏡在材料科學(xué),、生物學(xué)上應(yīng)用較多,。由于電子易散射或被物體吸收,，故穿透力低,，樣品的密度,、厚度等都會影響到后的成像質(zhì)量，必須制備更薄的超薄切片,，通常為50～100nm,。所以用透射電子顯微鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。常用的方法：超薄切片法,、冷凍超薄切片法,、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等,。對于液體樣品,，通常是掛預(yù)處理過的銅網(wǎng)上進(jìn)行觀察。
掃描電鏡主要用二次電子觀察形貌,，成像原理如圖所示,。在掃描電鏡中，電子槍發(fā)射出來的電子束,，經(jīng)三個電磁透鏡聚焦后,，成直徑為幾個納米的電子束。末級透鏡上部的掃描線圈能使電子束在試樣表面上做光柵狀掃描。試樣在電子束作用下,，激發(fā)出各種信號,，信號的強(qiáng)度取決于試樣表面的形貌、受激區(qū)域的成分和晶體取向,。設(shè)在試樣附近的探測器把激發(fā)出的電子信號接受下來,，經(jīng)信號處理放大系統(tǒng)后，輸送到顯象管柵極以調(diào)制顯象管的亮度,。由于顯象管中的電子束和鏡筒中的電子束是同步掃描的,，顯象管上各點(diǎn)的亮度是由試樣上各點(diǎn)激發(fā)出的電子信號強(qiáng)度來調(diào)制的，即由試樣表面上任一點(diǎn)所收集來的信號強(qiáng)度與顯象管屏上相應(yīng)點(diǎn)亮度之間是一一對應(yīng)的,。因此,，試樣各點(diǎn)狀態(tài)不同，顯象管各點(diǎn)相應(yīng)的亮度也必不同,，由此得到的象一定是試樣狀態(tài)的反映,。放置在試樣斜上方的波譜儀和能譜儀是用來收集X射線，借以實現(xiàn)X射線微區(qū)成分分析的,。值得強(qiáng)調(diào)的是，入射電子束在試樣表面上是逐點(diǎn)掃描的,，象是逐點(diǎn)記錄的,，因此試樣各點(diǎn)所激發(fā)出來的各種信號都可選錄出來，并可同時在相鄰的幾個顯象管上顯示出來,，這給試樣綜合分析帶來極大的方便,。
技術(shù)服務(wù)內(nèi)容
| 服務(wù)內(nèi)容 | 結(jié)果內(nèi)容 | 備注 |
| TEM透射電鏡 | 提供5-8張圖片/樣和圖片分析 | 含超薄切片和樣本處理。特殊組織定位另算 |
| SEM掃描電鏡 |
實驗結(jié)果展示
客戶須知
電鏡標(biāo)本要求
1）透射電鏡需客戶提供1mm3 左右的組織塊,，取材部位要求盡量精準(zhǔn),。
2）掃描電鏡，需客戶提供10*10*5mm大小的組織塊,。
3）如為細(xì)胞,，細(xì)胞數(shù)需≥106
實驗周期
20個工作日內(nèi)（具體實驗周期視實驗設(shè)計方案而異）