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Zeta電位納米粒度儀的主要原理

閱讀:829      發(fā)布時間:2024-2-21
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  Zeta電位納米粒度儀是用于測試納米粒徑及粒徑分布的全新軟件,采用動態(tài)光散射技術及電泳光散射技術,,可以實時,、準確地檢測膠體溶液中納米顆粒的粒徑及粒徑分布,以及Zeta電位等參數(shù),。

  Zeta電位納米粒度儀的原理主要基于電泳遷移和動態(tài)光散射技術,。以下是該原理的詳細解釋:

  1、電泳遷移:Zeta電位納米粒度儀通過施加一個電場,,使帶電的納米顆粒在電場中發(fā)生定向遷移,。這個遷移的速度與顆粒的電荷量、電場強度以及電介質的介電常數(shù)有關,。具體來說,,負電荷的顆粒會向正電極方向遷移,而正電荷的顆粒會向負電極方向遷移,。

  2,、動態(tài)光散射:在電場作用下,運動的納米顆粒當受到激光照射時,,會產生散射光,。由于多普勒效應,,這個散射光的頻率會發(fā)生變化。散射光與參考光疊加后,,頻率的變化會更加明顯,。通過測量這個頻率變化,可以推算出顆粒的運動速度,。

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  3,、Zeta電位的計算:根據顆粒在電場中的遷移速度和所施加的電場強度,可以計算出顆粒的電動力學電荷,。進一步地,,通過考慮電介質的影響,可以推算出顆粒表面的電位,,即Zeta電位,。

  綜上所述,Zeta電位納米粒度儀通過結合電泳遷移和動態(tài)光散射技術,,可以準確地測量納米顆粒的Zeta電位和粒度分布,。這對于理解納米顆粒的分散穩(wěn)定性、相互作用以及在各種應用中的行為具有重要意義,。

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