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顯微顆粒圖像分析儀 激光
  • 顯微顆粒圖像分析儀 激光
參考價 89000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
89000
≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 BOS-T180
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 廈門市
屬性

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更新時間:2025-04-28 14:33:30瀏覽次數(shù):1199評價

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更多產(chǎn)品
測量范圍 1-6000μm微米 測量時間 未秒
產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 分辨率 未微米
分散方式 干法分散 價格區(qū)間 面議
儀器種類 顆粒圖像分析儀 應(yīng)用領(lǐng)域 食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,地礦,鋼鐵/金屬
重現(xiàn)性 實(shí)際觀測范圍 1-6000μm
BOS-T180顯微顆粒圖像分析儀 激光 是國內(nèi)蕞心一代靜態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備,它采用蕞心的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件,,將計算機(jī)圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論玩美結(jié)合,,在獲得清晰的顆粒圖像的同時,將顆粒的粒度,、球型度,、長徑比、龐大率,、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來,,使用戶可以詳細(xì)的了解顆粒。

一,、顯微顆粒圖像分析儀 激光 產(chǎn)品簡介

BOS-T180是國內(nèi)蕞心一代靜態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備,,它采用蕞心的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件,將計算機(jī)圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論玩美結(jié)合,,在獲得清晰的顆粒圖像的同時,,將顆粒的粒度、球型度,、長徑比,、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來,,使用戶可以詳細(xì)的了解顆粒,。此外,,該款儀器還賦予了自動化、智能化能時代性的標(biāo)志,、使其操作更簡便,、分析更智能,、結(jié)果更穩(wěn)定,,是顆粒粒度測試及粒形分析的手選搭檔和得力助手,。
二,、顯微顆粒圖像分析儀 激光 性能特點(diǎn)
直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計算機(jī)屏幕,,用戶可以直觀且荃面了解顆粒的表面及形狀屬性,;
玩美拼接多幅圖像 將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅,,使參與分析的顆粒數(shù)量更多,,測試結(jié)果更具代表性,;
自動分割粘連顆粒 采用更良好的顆粒識別算法,對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割,,顯著提高粘連顆粒分割準(zhǔn)確率,,減少人為參與,有效縮短圖像處理時間,;
自適應(yīng)二值化功能 采用一種自適應(yīng)二值化功能,,使其進(jìn)行圖像二值化處理時不受拍攝光線的影響,避免了因光線不均勻等因素而導(dǎo)致顆粒信息丟失的情況,,為后續(xù)處理的精準(zhǔn)度奠定基礎(chǔ),;


自動處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動處理工具集,集成了二值化,、肖除邊界不完整顆粒,、肖除雜點(diǎn)、填充空洞,、平滑邊緣,、分割粘連顆粒、計算顆粒參數(shù)等功能的自動操作,,一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結(jié)果的生成等全部過程,,操作簡便且結(jié)果可靠;
自由切換粒徑單位 標(biāo)尺選取支持多種長度單位,、可在納米,、微米和毫米之間自由切換,便于用戶對通過電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步處理,;
快速處理特殊形狀顆粒 對于球形顆粒,,采用讀特的處理算法,對原始圖片無需進(jìn)行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息,,即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會影響分析結(jié)果,,提高球形顆粒的分析效率,。

三、適用范圍:
    BOS-T180靜態(tài)顆粒圖像儀適用于水泥,、陶瓷,、藥品、涂料,、樹脂,、染料、顏料,、填料,、化工產(chǎn)品、催化劑,、煤粉,、泥砂、粉塵,、面粉,、食品、添加劑,、農(nóng)藥,、榨藥、石墨,、感光材料,、燃料、金屬與非金屬粉末,、碳酸鈣,、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
四,、技術(shù)參數(shù)

規(guī)格型號

BOS-T180

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

ISO13322-1:   2004; GB/T21649.1-2008

顯微系統(tǒng)

物鏡

4X,、10X、40X,、60X,、100X(油)長距消色差(平場)物鏡組

目鏡

1X、10X,、16X 大視野攝像目鏡

載物臺

手動三維機(jī)械式載物臺,,尺寸:185mm×140mm,

移動范圍:50mm×75mm,,粗微同軸調(diào)焦,,

微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置

光源

底部透射光源,6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào),??蛇x頂部金相落射式光源(帶起偏振器)

總放大倍數(shù)

4倍——1600倍

攝像系統(tǒng)

蕞高分辨率

2048×1536

像素尺寸

3.2μm×3.2μm

成像元件

1/1.8英寸 progress scan CMOS

幀率

6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480

蕞高清晰度

900線

信噪比

小于42dB

敏感度

1.0V@550nm/lux/S

輸出方式

USB2.0

實(shí)際觀測范圍

1-6000μm

軟件功能

靜態(tài)采集

將樣品形貌拍攝為高清晰JPG圖片


圖片處理

使用多種畫圖工具對圖片進(jìn)行比較簡單的處理


圖像拼接

將多幅圖片進(jìn)行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性,。同時也可單張分析保存后再進(jìn)行拼接,進(jìn)一步提高了結(jié)果的準(zhǔn)確性,。

顆粒的自動處理工具集

自動肖除顆粒粘連,、自動肖除雜點(diǎn)、自動肖除邊界不完整顆粒,、自動*顆粒的空心區(qū)域,、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。


比例尺標(biāo)定

通過幗家標(biāo)準(zhǔn)測微尺標(biāo)定后,,每次測試只須選擇與物鏡相對應(yīng)的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實(shí)際大小數(shù)值,。


單個顆粒數(shù)據(jù)

可在圖片上直接對單個顆粒進(jìn)行截面積,、體積,、長徑比等10多項參數(shù)的分析。

任務(wù)管理機(jī)制

嚴(yán)格的任務(wù)管理機(jī)制,,使用戶能夠?qū)⑺袦y試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來,。

報告輸出

將測試結(jié)果輸出為報告,并可以自由修改報告樣式,。

整體分布特征參數(shù)

D10,、D50(中位徑)、D90,、D100等顆粒分布的特征參數(shù)

報告參數(shù)

整體頻率分布累計分布

顆粒按數(shù)量,、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數(shù)據(jù)表,、曲線圖,、柱狀圖等。

統(tǒng)計平均徑

Xnl,、Xns,、Xnv、Xls,、Xlv,、Xsv等常用的統(tǒng)計平均徑

形狀參數(shù)

長徑比、龐大率,、球型度,、表面率、比表面積,、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項常用數(shù)據(jù)

個數(shù)統(tǒng)計

直接得到所觀測的顆粒數(shù)量

樣品縮略圖

可以將樣品彩色或黑白(可選擇)縮略圖顯示到報告中

表頭輸入

可以將樣品名稱,、測試單位、分散介質(zhì)等多項信息輸入到報告表頭中

















































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