德國(guó)ROENTDEK檢測(cè)器MCP系列

普索貿(mào)易

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2、所有產(chǎn)品100％*,，原廠Packing List,、Invoice,、原廠證明、原產(chǎn)地證明,、德國(guó)香港海關(guān)關(guān)単手續(xù)齊全,。

3、歐盟境內(nèi)5000余家供應(yīng)商,，包含施耐德,、菲尼克斯等3000多個(gè)工控自動(dòng)化品牌，500多份原廠提供價(jià)格表迅速報(bào)價(jià),。

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德國(guó)ROENTDEK檢測(cè)器MCP系列

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ROENTDEK中國(guó)

ROENTDEK檢測(cè)器兩個(gè)特異性制品組件鏈接roentdek MCP型探測(cè)器,，即這dld和十六進(jìn)制與高壓模塊（如供roentdek hv2 / 4）和與前端電子器件（例如roentdek費(fèi)）繼續(xù)處理探測(cè)器信號(hào)檢索兩個(gè)小時(shí)和位置坐標(biāo)為detected顆粒,。

該產(chǎn)品組件還可以包括法蘭安裝齒輪探測(cè)器，例如ft12tp100安裝dld40上dn100cf（icf153）法蘭,。安裝齒輪圖紙?jiān)趓oentdek網(wǎng)站提供,。

ROENTDEK檢測(cè)器產(chǎn)品規(guī)格：

信號(hào)輸出帶寬：約500兆赫

工作電壓：4千伏

輸入阻抗：陽(yáng)極信號(hào)150歐姆

ROENTDEK光子探測(cè)器DLD40

ROENTDEK光子探測(cè)器DLD40

ROENTDEK光子探測(cè)器DLD40： 2-dim延遲線檢測(cè)器 微通道板（L / D 60:1,1.5mm厚（25μm孔），外徑50mm,，電阻匹配在10％以內(nèi)）人字紋構(gòu)造,，有效直徑> 42mm，質(zhì)量線性直徑40mm,。檢測(cè)器尺寸：直徑95mm,，深度30mm。檢測(cè)器的速率容差至少為1 MHz,。

DLD80： 2-dim延遲線檢測(cè)器 微通道板（L / D 60:1,1.5mm厚（25μm孔）,，外徑87mm，電阻匹配在10％以內(nèi)）,，人字紋構(gòu)造,，有效直徑> 75mm，質(zhì)量線直徑75mm,。檢測(cè)器尺寸：直徑145 mm,，深度30 mm。檢測(cè)器的速率容差至少為1MHz,。

HEX75b：具有改善的多點(diǎn)容差（零死區(qū)時(shí)間）的2-dim延遲線檢測(cè)器,，包括 微通道板（L / D 75：1,1mm厚（13μm 孔）,，87mm外徑，OAR 70％,，電阻匹配在10％以內(nèi)）,，人字紋疊層配置，檢測(cè)器的有效直徑為75mm,。檢測(cè)器尺寸：直徑196mm，深度30mm,。

DLD120： 2-dim延遲線檢測(cè)器 微通道板（L / D 60:1,1.5mm厚（25μm孔）,，127mm外徑，電阻匹配在10％以內(nèi)）,，人字紋構(gòu)造,，有效直徑120mm，質(zhì)量直徑115mm,。檢測(cè)器尺寸：直徑196mm,，深度30mm。檢測(cè)器的速率容差至少為1MHz,。

DET40 / 75：粒子計(jì)數(shù)檢測(cè)器 微通道板（L / D 74：1,1mm厚,，13微米孔徑，OAR 70％,，成像等級(jí),，50 / 87mm外徑（有效> 40/75mm），匹配電阻在10％以內(nèi),，金屬（正時(shí)）陽(yáng)極,。無(wú)法蘭安裝的檢測(cè)器尺寸）：直徑66/106 mm，深度10 mm,。計(jì)數(shù)率至少為1 MHz,。

RS-DET40： CF100（ICF153）上的法蘭安裝的40 mm MCP堆疊（Chevron），帶電阻屏,，用于空氣側(cè)讀出電極上的圖像充電信號(hào)拾?。K化，例如延遲線,，楔形和帶狀,，成像像素）。包括信號(hào)饋通和MCP定時(shí)拾?。ㄈ鏔T4TP）,。

ROENTDEK光子探測(cè)器以外熱門的型號(hào)：

ROENTDEK光子探測(cè)器產(chǎn)品型號(hào)：DLD40、DLD40EP,、DLD80,、DLD75eT,、HEX75b、f HEX75 / 40,、HEX40o,、HEX75o、HEX120o,、DLD120,、DLD150、DLD105,、HEX100,、DET40 / 75、RS-DET40,、RS-DET75,、DLD40X、DLD75X,。

將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法,，以鑒別某一物質(zhì)是單折射（各向同性）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基本特性,。因此,，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、化學(xué)等領(lǐng)域,，在生物學(xué)和植物學(xué)也有應(yīng)用,。
偏光顯微是鑒定物質(zhì)細(xì)微結(jié)構(gòu)光學(xué)性質(zhì)的一種顯微鏡。凡具有雙折射性的物質(zhì),，在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,，當(dāng)然這些物質(zhì)也可用染色法來(lái)進(jìn)行觀察，但有些則不可能,，而必須利用偏光顯微鏡,。
偏光顯微鏡的特點(diǎn)，就是將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法,，以鑒別某一物質(zhì)是單折射性（各向同性）或雙折射性（各向異性）,。
雙折射性是晶體的基本特征。因此,，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物,、高分子、纖維,、玻璃,、半導(dǎo)體、化學(xué)等領(lǐng)域。在生物學(xué)中,，很多結(jié)構(gòu)也具有雙折射性,，這就需要利用偏光顯微鏡加以區(qū)分。在植物學(xué)方面,，如鑒別纖維,、染色體、紡錘絲,、淀粉粒,、細(xì)胞壁以及細(xì)胞質(zhì)與組織中是否含有晶體等。在植物病理上,，病菌的入侵,，常引起組織內(nèi)化學(xué)性質(zhì)的改變，可以偏光顯微術(shù)進(jìn)行鑒別,。將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法，以鑒別某一物質(zhì)是單折射（各向同性）或雙折射性（各向異性）,。雙折射性是晶體的基本特性,。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物,、化學(xué)等領(lǐng)域,，在生物學(xué)和植物學(xué)也有應(yīng)用。
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雙折射性是晶體的基本特征,。因此,，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、高分子,、纖維,、玻璃、半導(dǎo)體,、化學(xué)等領(lǐng)域,。在生物學(xué)中，很多結(jié)構(gòu)也具有雙折射性，這就需要利用偏光顯微鏡加以區(qū)分,。在植物學(xué)方面,，如鑒別纖維、染色體,、紡錘絲,、淀粉粒、細(xì)胞壁以及細(xì)胞質(zhì)與組織中是否含有晶體等,。在植物病理上,，病菌的入侵，常引起組織內(nèi)化學(xué)性質(zhì)的改變,，可以偏光顯微術(shù)進(jìn)行鑒別,。將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法，以鑒別某一物質(zhì)是單折射（各向同性）或雙折射性（各向異性）,。雙折射性是晶體的基本特性,。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物,、化學(xué)等領(lǐng)域,，在生物學(xué)和植物學(xué)也有應(yīng)用。
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偏光顯微鏡的特點(diǎn),，就是將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法,，以鑒別某一物質(zhì)是單折射性（各向同性）或雙折射性（各向異性）。
雙折射性是晶體的基本特征,。因此,，偏光顯微鏡被廣泛地應(yīng)用在礦物、高分子,、纖維,、玻璃、半導(dǎo)體,、化學(xué)等領(lǐng)域,。在生物學(xué)中，很多結(jié)構(gòu)也具有雙折射性,，這就需要利用偏光顯微鏡加以區(qū)分,。在植物學(xué)方面，如鑒別纖維、染色體,、紡錘絲,、淀粉粒、細(xì)胞壁以及細(xì)胞質(zhì)與組織中是否含有晶體等,。在植物病理上,，病菌的入侵，常引起組織內(nèi)化學(xué)性質(zhì)的改變,，可以偏光顯微術(shù)進(jìn)行鑒別,。