利用相控陣技術(shù)進行腐蝕檢測具有很多優(yōu)勢,,其中包括較大的覆蓋范圍和出色的分辨率,。但是,熟練掌握相控陣技術(shù)具有一定的挑戰(zhàn)性,。OmniScan X3探傷儀通過精心設(shè)計的軟件和簡單流暢的菜單為用戶提供高級功能,,從而可使用戶簡單輕松地獲得準確的數(shù)據(jù)。
- 儀器所提供的高級工具,,如:全聚焦方式(TFM)圖像,,可用于檢測腐蝕或其他一些較難探測到的損壞現(xiàn)象,如:高溫氫致缺陷(HTHA)和氫致裂紋(HIC)
- 只需極為簡單的設(shè)置,,就可以使用一個多包含64個晶片的孔徑生成具有優(yōu)質(zhì)分辨率的 全聚焦方式(TFM)圖像
- 任何水平的操作人員在使用儀器時都會感到 得心應(yīng)手
- 得益于簡化的菜單結(jié)構(gòu)和設(shè)置向?qū)В?nbsp;用戶可以更輕松地設(shè)置復(fù)雜的解決方案,,如:與HydroFORM掃查器配套進行的檢測