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X射線電鍍測厚儀鍍層樣品鍍層厚度檢測原理
閱讀：1958 發(fā)布時間：2020-11-11
X射線電鍍測厚儀是能譜分析方法,，屬于物理分析方法。能檢測出常見金屬鍍層厚度,，無需樣品預(yù)處理,；分析時間短，僅為數(shù)十秒,，即可分析出各金屬鍍層的厚度,；分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm,。具有快速,、準(zhǔn)確、簡便,、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)，廣泛用于鍍層厚度的測量,、電鍍液濃度的測量,。
樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線,，不同的元素有不同的特征X射線,；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號,；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計算機(jī)進(jìn)行處理,；計算機(jī)*的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度,。
X射線電鍍測厚儀的性能特點(diǎn)：
1、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加,。
2,、良好的射線屏蔽作用,。
3、測試口高度敏感性傳感器保護(hù),。
4,、采用高度定位激光，可自動定位測試高度,。
5、定位激光確定定位光斑,，確保測試點(diǎn)與光斑對齊。
6,、滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求,。
7、φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求,。
8,、高精度移動平臺可準(zhǔn)確定位測試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm,。
9,、鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn),。