Dexela2923數(shù)字射線平板探測(cè)器
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為了獲得用于非破壞性測(cè)試成像的高分辨率的圖像質(zhì)量,,請(qǐng)升級(jí)到1207N Varex Imaging CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)X射線平板探測(cè)器,。
1207N CMOS平板探測(cè)器是具有出色靈敏度的高速,低噪聲X射線探測(cè)器,。 該探測(cè)器采用的大面積CMOS圖像傳感器技術(shù),,并提供了一系列閃爍器和接口選項(xiàng)。
CMOS平板檢測(cè)器具有可切換的像素增益,,這使其非常適合實(shí)時(shí)和計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)成像以及具有高動(dòng)態(tài)范圍的靜態(tài)成像,。
1207N平板探測(cè)器的功能和優(yōu)點(diǎn)包括:
- 74.8μm像素間距
- 1536 x 864像素
- 高靈敏度和高動(dòng)態(tài)范圍模式
- 高工作電壓160 kV
- 適用于高達(dá)191 fps的實(shí)時(shí)成像
- 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并選項(xiàng)
- 高DQE
- 各種閃爍器選項(xiàng)
- X射線發(fā)生器同步的輸入/輸出
- Camera Link或GigE Vision數(shù)據(jù)連接
1512N
![](https://www.vareximaging.com/sites/default/files/CMOS%201512N_2019-08-29.460%20transparent.png)
為了獲得用于非破壞性測(cè)試成像的高分辨率的圖像質(zhì)量,請(qǐng)升級(jí)到1512N Varex Imaging CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)平板探測(cè)器,。
1512N CMOS平板探測(cè)器是具有出色靈敏度的高速,,低噪聲X射線探測(cè)器。 該探測(cè)器采用的大面積CMOS圖像傳感器技術(shù),,并提供了一系列閃爍器和接口選項(xiàng),。
CMOS平板檢測(cè)器具有可切換的像素增益,這使其非常適合實(shí)時(shí)和計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)成像以及具有高動(dòng)態(tài)范圍的靜態(tài)成像,。
1512N平板探測(cè)器的功能和優(yōu)點(diǎn)包括:
- 74.8μm像素間距
- 1944 x 1536像素
- 高靈敏度和高動(dòng)態(tài)范圍模式
- 高225 kV的操作
- 適用于高達(dá)86 fps的實(shí)時(shí)成像
- 1 x 1,、2 x 2和4 x 4像素合并選項(xiàng)
- 高DQE
- 各種閃爍器選項(xiàng)
- X射線發(fā)生器同步的輸入/輸出
- Camera Link或GigE Vision數(shù)據(jù)連接
2315N
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CMOS平板檢測(cè)器具有可切換的像素增益,這使其非常適合實(shí)時(shí)和計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)成像以及具有高動(dòng)態(tài)范圍的靜態(tài)成像,。
2315N平板探測(cè)器的功能和優(yōu)點(diǎn)包括:
- 74.8μm像素間距
- 3072 x 1944像素
- 高靈敏度和高動(dòng)態(tài)范圍模式
- 高工作電壓160 kV
- 適用于高達(dá)191 fps的實(shí)時(shí)成像
- 1 x 1,、2 x 2和4 x 4像素合并選項(xiàng)
- 高DQE
- 各種閃爍器選項(xiàng)
- X射線發(fā)生器同步的輸入/輸出
- Camera Link或GigE Vision數(shù)據(jù)連接
Dexela2923數(shù)字射線平板探測(cè)器