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手持式合金光譜分析儀屏蔽空氣的影響,，大幅擴展測試的范圍
手持式合金光譜分析儀在XRF分析法中,，從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素,。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌,。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子,。由于電子本能會尋求穩(wěn)定,，外層L層或M層的電子會進入彌補內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進入內(nèi)層的過程中,，它們會釋放出能量,，我們稱之為二次X射線光子。
優(yōu)勢：
1.薄窗X光管,，指標(biāo)達到先進水平,；
2.數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快,，計數(shù)率精度更高,；
3.SDD硅漂移探測器，良好的能量線性,、能量分辨率和能譜特性,，較高的峰背比，有效的提高元素的檢測限,；
4.信噪比增強器（SNE）,，提高信號處理能力25倍以上；
5.低能X射線激發(fā)待測元素,，對Si,、P等輕元素激發(fā)效果好；
6.智能抽真空系統(tǒng),，屏蔽空氣的影響,，大幅擴展測試的范圍；
7.自動穩(wěn)譜裝置確保了儀器工作的一致性；
8.高信噪比的電子線路單元,，針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片,，免去手工操作帶來的繁瑣；
9.解譜技術(shù)使譜峰分解,，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度,；
10.多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收,、增應(yīng)得到明顯的抑制,；
11.內(nèi)置高清晰攝像頭；
12.液晶屏顯示讓手持式合金光譜分析儀的重要參數(shù)（管壓,、管流,、真空度）一目了然。
手持式合金光譜分析儀采用CMOS檢測器全譜測試技術(shù),可測試覆蓋波長范圍內(nèi)的所有譜線,，配置和補充測試基體,、通道、分析程序極為方便,。儀器體積小巧,，方便維護和實驗室放置，是全面測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器,，可以滿足包括:Fe基體、Cu基體,、Al基體,、Ti基體、Pb基體,、Mg基體,、Co基體等基體要求,是金屬元素分析的優(yōu)選擇。