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X射線熒光光譜儀的工作原理你真的明白嗎？
X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer,，簡(jiǎn)稱：XRF光譜儀）,，是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法,。X射線熒光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線,。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析,，特別是在金屬，玻璃,，陶瓷和建材的調(diào)查和研究,，地球化學(xué)，法醫(yī)學(xué),，考古學(xué)和藝術(shù)品,，例如油畫和壁畫。
當(dāng)材料暴露在短波長X光檢查,，或伽馬射線,，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢(shì),，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子,，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，在外軌道的電子會(huì)“回補(bǔ)”進(jìn)入低軌道,，以填補(bǔ)以前的洞,。在“回補(bǔ)”的過程會(huì)釋出多余的能源，光子能量是相等兩個(gè)軌道的能量差異的,。因此,，物質(zhì)放射出的輻射，這是原子的能量特性,。
主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射,，一次是在1928年由施雷伯提出的。到了現(xiàn)在,，該方法作為非破壞性分析技術(shù),，并作為過程控制的工具，廣泛應(yīng)用于采掘和加工工業(yè),。原則上,，輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產(chǎn)量,，往往難以量化,，所以針對(duì)能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾,，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾,。