X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小,，X射線法可測極薄鍍層,、雙鍍層、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量,。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。隨著技術(shù)的日益進步,，特別是近年來引入微機技術(shù)后,，采用X射線鍍層測厚儀 向微型,、智能,、多功能,、高精度、實用化的方向進了一步,。測量的分辨率已達(dá)0.1微米,，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高,。它適用范圍廣,，量程寬、操作簡便且價廉,，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器,。

Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,，可全自動軟件操作,，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點,，以及移動平臺,。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件,，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手,。

天瑞儀器鍍層測厚儀性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,，確保測試點與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加準(zhǔn)確
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

天瑞儀器鍍層測厚儀技術(shù)指標(biāo)

型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）,。
同時可以分析30種以上元素,，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% ,。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型,。
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃,。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,，探測器和X光管上下可動,，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置,。
鉛玻璃屏蔽罩,。
Si-Pin探測器,。
信號檢測電子電路。
高低壓電源,。
X光管,。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑,，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定,。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行,，首飾銷售和檢測機構(gòu),；電鍍行業(yè)。