電鍍廠鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量方法主要有X射線熒光法,β射線反向散射法,楔切法,磁感應(yīng)測(cè)厚法,電渦流測(cè)厚法(包括相位敏感的電渦流測(cè)厚法)及超聲波測(cè)厚法等.上述幾種測(cè)厚法中除楔切法外均為無(wú)損檢測(cè)法.但X射線熒光法及β射線反向散射法所用的裝置復(fù)雜昂貴,且須用到放射源.因此,目前市面上的便攜式涂鍍層測(cè)厚儀所應(yīng)用的基本都是后三種測(cè)厚法.

Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),，專(zhuān)門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試,，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,，配上專(zhuān)門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件,，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

電鍍廠鍍層測(cè)厚儀性能特點(diǎn)

滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿(mǎn)足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可準(zhǔn)確定位測(cè)試點(diǎn),，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加準(zhǔn)確
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）,。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% ,。
鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型,。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃,。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

開(kāi)放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置,。
鉛玻璃屏蔽罩,。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路,。
高低壓電源,。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金,，鉑,，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè),；銀行,，首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè),。