XRF鍍層測厚儀,俗稱X射線熒光測厚儀,、XRF鍍層測厚儀,、XRF膜厚儀、膜厚測試儀,、XRF金鎳厚測試儀,、XRF電鍍,XRF鍍層測厚儀,俗稱X射線熒光測厚儀、XRF鍍層測厚儀,、XRF膜厚儀,、膜厚測試儀,、XRF金鎳厚測試儀、XRF電鍍膜厚儀等,；主要應用于精密測量金屬電鍍層的厚度,；廣泛應用于電路板、端子連接器,、LED,、半導體、衛(wèi)浴潔具,、五金電鍍,、珠寶首飾、汽車配件,、檢測機構(gòu)以及研究所和高等院校等主要應用于精密測量金屬電鍍層的厚度,；廣泛應用于電路板、端子連接器,、LED,、半導體、衛(wèi)浴潔具,、五金電鍍,、珠寶首飾、汽車配件,、檢測機構(gòu)以及研究所和高等院校等

XRF鍍層測厚儀生產(chǎn)廠家性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點,，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

XRF鍍層測厚儀生產(chǎn)廠家技術指標

型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素,，五層鍍層,。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型,。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃,。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標準配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,，探測器和X光管上下可動,，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置,。
鉛玻璃屏蔽罩,。
Si-Pin探測器,。
信號檢測電子電路。
高低壓電源,。
X光管,。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

應用領域

黃金，鉑,，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定,。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行,，首飾銷售和檢測機構(gòu),；電鍍行業(yè)。